T_CASAS 034—2024(用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法).pdf

ICS31.080

CCSL40/49

团体标准

T/CASAS034—2024

台

平

息

用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁

信

移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法

准

Dynamicon-resistancetestmethodforGaNhighelectronmobility

transistor(HEMT)inzero-voltage-switching-oncircuits

标

体

团

国

全

2024-09-30发布2024-09-30实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

T/CASAS034—2024

目次

前言III

台

引言IV

1范围1

2规范性引用文件1

平

3术语和定义1

4零电压软开通电路动态导通电阻测试原理2

5测试条件3

息

6测试装置4

7测试程序4

测试方法4

信

测试流程6

8数据记录和处理7

9试验报告7

准

附录A（资料性）用于零电压软开通电路的GaNHEMT动态导通电阻测试记录表8

参考文献9

标

体

团

国

全

I

T/CASAS034—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则