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具有裂缝检测结构的半导体元件及其制备方法.pdf

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112825316 A (43)申请公布日 2021.05.21 (21)申请号 202011254686.9 (22)申请日 2020.11.11 (30)优先权数据

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