集成电路封装与测试 课件 74LS138测试开发(总).ppt

测试程序编写222.测试程序编写1).初始化测试机，并给电源引脚提供5V电压cy-_reset();//初始化测试机cy-MSleep_mS(5);//延时5mscy-_on_vpt(1,1,5);//给电源引脚5V电压cy-MSleep_mS(5);//延时5ms06功能测试测试程序编写232.测试程序编写2).设置逻辑电平，对应真值表为对应引脚提供相应电平cy-_set_logic_level(2,0.8,2.7,0.4);//设置输入高电平2V、输入低电平0.8V，输出高电平2.7V、输出低电平0.4Vcy-MSleep_mS(5);//延时5mscy-_sel_drv_pin(1,2,3,4,5,6,0);//设定输入引脚1,2,3,4,5,6cy-_sel_comp_pin(7,9,10,11,12,13,14,15,0);//设定输出引脚7,9,10,11,12,13,14,15cy-MSleep_mS(5);//延时5ms06功能测试测试程序编写242.测试程序编写3).第一行真值表功能测试cy-_set_drvpin(H,4,5,0);//给4、5引脚高电平，真值表的第一行的输入组合cy-_set_drvpin(H,1,2,3,6,0);//给其他输入引脚高电平，真值表的第一行的输入组合，也可以给其他电平cy-MSleep_mS(5);//延时5mscy-_read_comppin(_T(FUN1),1,XHHHHHHHXHXXXXXX);//XHHHHHHHXHXXXXXX:?X代表忽略此PIN脚状态，H代表高电平，L代表低电平，从右到左依次是1脚到16脚的逻辑电平，7脚到15脚（扣除8脚）对应的输出管脚逻辑电平为HHHHHHHH，其对应的是真值表第一行的输出，_read_comppin函数将读到的输出脚的状态与HHHHHHHH比较，并将比较结果赋给参数FUN1cy-MSleep_mS(5);//延时5ms06功能测试测试程序编写252.测试程序编写4).第二行真值表功能测试cy-_set_drvpin(L,6,0);//给6引脚低电平，真值表的第二行的输入组合cy-_set_drvpin(H,1,2,3,4,5,0);//给其他输入引脚高电平，真值表的第二行的输入组合，也可以给其他电平cy-MSleep_mS(5);//延时5mscy-_read_comppin(_T(FUN2),1,XHHHHHHHXHXXXXXX);//将输出脚的状态与HHHHHHHH比较，并将比较结果赋给参数FUN2 cy-MSleep_mS(5);//延时5ms06功能测试测试程序编写262.测试程序编写5).第三行真值表功能测试cy-_set_drvpin(L,4,5,1,2,3,0);//给4、5、1、2、3引脚低电平，真值表的第三行的输入组合cy-_set_drvpin(H,6,0);//给6引脚高电平，真值表的第三行的输入组合cy-MSleep_mS(5);//延时5mscy-_read_comppin(_T(FUN3),1,XLHHHHHHXHXXXXXX);//将输出脚的状态与LHHHHHHH比较，并将比较结果赋给参数FUN3cy-MSleep_mS(5);//延时5ms06功能测试测试程序编写272.测试程序编写6).第四行真值表功能测试cy-_set_drvpin(H,6,1,0);//给6、1引脚高电平，真值表的第四行的输入组合cy-_set_drvpin(L,4,5,2,3,0);//给4、5、2、3引脚低电平，真值表的第四行的输入组合cy-MSleep_mS(5);//延时5mscy-_read_comppin(_T(FUN4),1,XHLHHHHHXHXXXXXX);//将输出脚的状态与HLHHHHHH比较，并将比较结果赋给参数FUN4cy-MSleep_mS(5);//延时5ms06功能测试测试程序编写2