一种提高GaN HEMT界面质量的方法.pdf
文本预览下载声明
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112993029 B
(45)授权公告日 2022.04.01
(21)申请号 202110154226.7 H01L 21/335 (2006.01)
显示全部