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EUV光掩模体的缺陷检测方法及系统.pdf

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114879447 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210442579.1 (22)申请日 2022.04.25 (71)申请人 上海传芯半导体有限公司 地址 20
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