掩模缺陷检测装置、掩模缺陷检测系统以及光刻机系统.pdf
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(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114563348 A
(43)申请公布日 2022.05.31
(21)申请号 202210096352.6
(22)申请日 2022.01.26
(71)申请人 中国科学院微电子研究所
地址 10
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