2015年天津大学半导体物理考研真题,考研重点,真题解析,考研心态.pdf
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2015年天津大学考研指导
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半导体物理或电介质物理
本考试课程由两部分组成,请考生根据自己的具体情况任选一部分进行答题。 第一部分: 半导体物理考
试大纲(参加半导体物理考试的考生参考):
一、考试的总体要求 本课程为本专业主干专业基础课,要求考生掌握半导体物理的基本概念、p-n 结、MOS
结构、 异质结、各种半导体效应(光、磁、热、压阻等)基本原理和应用。
二、考试的内容及比例
(一)考试内容要点:
第一部分: (70%) 1、半导体能带结构、半导体有效质量、空穴、杂质能级; 2、热平衡状态下半导体载
流子的统计分布,本征半导体和杂质半 导体的载流子浓度,简并 半导体和重掺杂效应; 3、半导体的导
电性:载流子的漂移运动、迁移率、散射、强电场效应、热载流子的概念, 半导体电阻率与温度、杂质浓度
的关系,体内负微分电导; 4、非平衡载流子:非平衡载流子的产生、复合、寿命、扩散长度、准费米能
级,爱因斯坦 关系,一维稳定扩散,光激发载流子衰减; 5、p-n 结、MOS 结构:平衡与非平衡 p-n 结
特点及其能带图,pn 结理想和非理想 I-V 特性, p-n 结电容概念与击穿机制,p-n 结隧道效应、肖特基
势垒二极管; 6、MOS 结构表面电场效应,理想与实际 MOS 结构 C-V 特性, MOS 系统的性质 (固定
电荷、 可动离子、界面态对 C-V 特性的影响),表面电场对 p-n 结特性的影响;
第二部分:(30%) 7、半导体异质结:异质结概念及理想突变反型异质结能带图,异质 p-n 结注入特性
(高注入比与超注入概念),半导体应变异质结概念; 8、半导体光学性质:半导体光吸收,半导体光电
探测器, 半导体太阳电池,半导体发光概 念与应用,半导体激光与应用; 9、半导体霍尔效应、半导体压
阻效应、半导体热电效应及其应用,非晶态半导体概念。
(二)比例: 考试内容前 6 个问题占 70%,后 3 个问题占 30%,计算与推导题基本覆盖在 2 至 6 个
问题中。
三、试卷题型及比例 1、概念与问答题:40%; 2、论述题:30%; 3、计算与推导题:20%; 4、实验与
综合题:10%。
四、考试形式及时间 考试形式均为笔试。考试时间为 3 小时(满分 150)。
五、参考书目 半导体物理学,(第七版), 刘恩科、朱秉升、罗晋生编著,电子工业出版社。
第二部分:电介质物理大纲(参加电介质物理考试的考生参考):
一、考试的总体要求 本课程要求考生重点掌握电介质物理的基本原理与概念,并能运用这些基本概念分析
和解释 有关的实际问题。
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二、考试的内容及比例 考试具体范围如下:1、恒定电场中电介质的极化 (1)介电常数和介质极化; (2)
有效电场; (3)克-莫方程及其应用; (4)极性液体介质的有效电场; (5)电子位移极化、离子位移
极化、转向极化、热离子极化、空间电荷极化。2、恒定电场中电介质的电导 (1)气体介质的电导; (2)
液体介质的电导; (3)固体介质的电导-固体介质的离子电导; (4)固体介质的表面电导; (5)直流
电场下介质的绝缘电阻与能量损耗。 3、交变电场中电介质的损耗 (1)复介电常数和复折射率; (2)
介质损耗; (3)弛豫现象; (4)德拜方程; (5)柯尔-柯尔圆弧律; (6)介质损耗与温度的关系; (7)
计及漏电导时的介质损耗; (8)有损耗电介质的等效电路。
三、试卷类型及比例 1、名词辨析题:20%2、填空题:20%3、简答题:40%4、综合题:20%
四、考试形式及时间 考试形式均为笔试。考试时间为 3 小时(满分 150 分)。
五、参考书目
1、 《电介质物理导论》,李翰如,成都科技大学出版社;
2、 《电介质物理基础》,孙目珍,华南理工大学出版社;
《电介质物理》,张良莹、姚熹,西安交通大学出版社。
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