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2025年透射电子显微学试题
一、选择题
1.透射电子显微镜中，电子枪发射的电子束能量通常在（）范围内。（）[单选题]*
A.1-10keV
B.10-100keV
C.100-300keV
D.300-500keV
E.500-1000keV
答案：C。原因是在透射电子显微镜中，100-300keV这个能量范围较为常见，此能量能够使电子穿透样品并提供合适的分辨率等成像条件，较低能量可能无法穿透较厚样品，过高能量则设备要求和成本会大幅增加。
2.以下哪个部件在透射电子显微镜中用于汇聚电子束？（）[单选题]*
A.物镜
B.聚光镜
C.中间镜
D.投影镜
E.光阑
答案：B。聚光镜的主要功能就是汇聚电子束，使电子束能够集中照射到样品上，物镜主要用于对透过样品的电子进行成像，中间镜和投影镜主要用于对成像进行进一步放大和处理，光阑主要是限制电子束的大小和形状等。
3.在透射电子显微学中，样品的厚度一般要求为（）。（）[单选题]*
A.小于10nm
B.10-50nm
C.50-100nm
D.100-200nm
E.200-500nm
答案：B。因为当样品厚度在10-50nm时，既能保证电子有足够的穿透率，又能在成像时提供较好的对比度和分辨率等，如果太厚电子穿透困难无法成像，太薄则可能难以代表样品的整体特性。
4.以下哪种成像模式在透射电子显微镜中主要用于观察样品的原子结构？（）[单选题]*
A.明场像
B.暗场像
C.高分辨像
D.选区电子衍射像
E.能量过滤像
答案：C。高分辨像能够直接观察到原子的排列等原子结构信息，明场像和暗场像主要用于显示样品的形貌和部分结构差异，选区电子衍射像主要用于分析晶体结构的对称性等，能量过滤像主要用于对特定能量电子成像进行成分分析等。
5.透射电子显微镜中，物镜的球差系数会影响（）。（）[单选题]*
A.电子束的能量
B.图像的分辨率
C.样品的厚度要求
D.成像的对比度
E.电子束的聚焦位置
答案：B。物镜的球差系数对图像分辨率有着重要影响，球差会使电子束在成像过程中产生偏差，从而降低分辨率，它与电子束能量、样品厚度要求、成像对比度和电子束聚焦位置并无直接的这种因果关系。
6.以下哪个元素在进行透射电子显微分析时，可能会因为其原子序数较大而产生较强的散射？（）[单选题]*
A.碳
B.氧
C.铁
D.铝
E.硅
答案：C。在这些元素中，铁的原子序数较大。原子序数越大，对电子的散射能力越强，碳、氧、铝、硅的原子序数相对铁较小，散射能力较弱。
7.在透射电子显微镜中，为了减少色差，常采用（）。（）[单选题]*
A.更高能量的电子束
B.更低能量的电子束
C.单色器
D.更大的光阑
E.更小的光阑
答案：C。单色器能够减少电子束能量的分散，从而减少色差。更高或更低能量的电子束不能直接减少色差，大光阑会使色差等像差更严重，小光阑主要是控制电子束的大小而不是减少色差。
8.以下哪种技术可以在透射电子显微镜下对样品进行元素分析？（）[单选题]*
A.电子能量损失谱（EELS）
B.二次电子成像
C.背散射电子成像
D.阴极荧光成像
E.扫描隧道显微镜（STM）技术
答案：A。电子能量损失谱（EELS）可以通过分析电子在与样品相互作用过程中的能量损失来确定样品中的元素组成，二次电子成像、背散射电子成像主要用于扫描电子显微镜中的形貌观察，阴极荧光成像主要用于检测材料中的发光现象，STM技术是一种表面分析技术并非用于透射电镜下的元素分析。
9.透射电子显微镜的放大倍数主要由（）决定。（）[单选题]*
A.物镜和聚光镜
B.物镜和中间镜
C.中间镜和投影镜
D.聚光镜和投影镜
E.物镜、中间镜和投影镜
答案：E。透射电子显微镜的放大倍数是由物镜、中间镜和投影镜共同作用决定的，物镜进行初步成像，中间镜和投影镜对成像进行进一步的放大处理，单独的物镜和聚光镜、物镜和中间镜、中间镜和投影镜、聚光镜和投影镜都不能完整决定放大倍数。
10.在透射电子显微学中，若要观察晶体的晶面间距，可采用（）。（）[单选题]*
A.明场像
B.暗场像
C.高分辨像
D.选区电子衍射像
E.能量过滤像
答案：D。选区电子衍射像可以通过分析衍射斑点的位置等信息来确定晶体的晶面间距，明场像和暗场像主要显示形貌和部分结构差异，高分辨像主要观察原子结构，能量过滤像主要用于成分分析。
11.透射电子显微镜的真空系统的主要作用不包括（）。（）[单选题]*
A.防止电子散射
B.防止样品氧化
C.减少电子与气体分子的碰撞
D.提高电子枪的发射效率
E.直接提高图