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第1節 不良率管制圖(p-chart) ? 按下式重新計算這些點准確的管制限﹕ UCLp﹐LCLp=p±3 p(1-p)/n 其中n為特殊子組的樣本容量﹐點與點 之間只有n的值變化。 ?在管制圖上描繪受影響的子組新的上﹑ 下管制限。并作為識別特殊原因的依據。 第九十五页，共一百四十一页。 第1節 不良率管制圖(p-chart) 注意﹕任何處理可變管制限的程序都會很麻煩并造成混亂。因此﹐如果可能最好調整成使用恆定樣本容量。 3.過程管制用管制圖解釋﹕ 數據點中存在超出管制限的點﹐或存在超出隨機情況下可能出現的明顯趨勢或圖形﹐這就表明存在變異的特殊原因。 第九十六页，共一百四十一页。 第1節 不良率管制圖(p-chart) A.分析數據點﹐找出不穩定的証據﹕ 超出管制限的點﹕ a.超出任一管制限就証明在此點不穩定。 超出上管制限的點通常表明存在下述 的情況﹕ ?管制限或描點錯誤﹔ ?過程性能惡化﹐在當時那點或作為一種趨 勢的一部分﹔ ?量測系統已改變。 第九十七页，共一百四十一页。 第1節 不良率管制圖(p-chart) 低于管制限的點說明﹕ ?管制限或描點錯誤﹔ ?過程性能已改進﹔ ?量測系統已改變。 在管制限之內出現異常圖形或趨勢﹐即使所有的點均在管制內﹐也說明在出現這個圖形或趨勢的時期內過程失控或性能水平變化﹔ 第九十八页，共一百四十一页。 第1節 不良率管制圖(p-chart) 當每個子組的np≧ 9﹐子組的p的分布近似于正態分布并且可以使用與Xbar圖所用分析相似的分布方法。如np≦5﹐則不能直接應用以下規則。 b.鏈—在一個受控的﹐np中等較大的過程中﹐落在均值兩側的點的數量將几乎相等。下列情況表明過程開始出現變化或將出現變化﹕ 第九十九页，共一百四十一页。 第1節 不良率管制圖(p-chart) ?連續7點位于均值的一側﹔ ?連續7點上升或連續的下降。 ?出現高于均值的長鏈或連續上升的點﹐說明﹕ ?過程性能已惡化﹐而且可能還在惡化﹔ ?量測系統已改變。 ? 出現低于均值的長鏈或連續上升的點﹐說明﹕ ?過程性能已改進﹔ ?量測系統已改變。 當np≦ 5時﹐出現低于p的鏈的可能性增加﹐有必要用長度為8點或更多的點的長鏈來作為不良率降低的標志。 第一百页，共一百四十一页。 一.平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) E.識別和標注特殊原因(平均值圖)﹕ 對于平均值數據中每一個顯示處于失控狀態的條件進行一次過程操作分析﹐以確定特殊原因的產生的理由﹐矯正該狀態﹐并且防止再現。 利用管制圖數據來確定這樣狀態何時開始且會持續多久。及時分析也是很重要的。 第六十三页，共一百四十一页。 一.平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) F.重新計算管制限(平均值圖)﹕ 當進行首次過程研究或重新評定過程能力時﹐要排除已發現并解決了的特殊原因的任何失控的點﹐重新計算并描畫過程平均值和管制限。 確保當與新的管制限相比時﹐所有的數據點看起來都處于受控狀態。 第六十四页，共一百四十一页。 一.平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) G.延長管制限繼續進行管制﹕ 子組容量的變化將影響期望的平均全距以及平均值圖的管制限。為了調整新的子組樣本容量對應的中心線和管制限﹐應采取如下措施﹕ a.估計過程的標准偏差(用σ表示)﹐用現有的子組容量計算﹕ σ=R/D2 ? ? 式中R為子組全距的均值(在全距受控時期)﹐D2隨 樣本容量變化的常數。 第六十五页，共一百四十一页。 一.平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) b.按照新的子組容量查表得到系數d2﹑D3﹑D4 和A2,計算新的全距和管制限﹕ R新=σ/d2 UCLX= X+A2R新 UCLR = D4R新 LCLX= X-A2R新 LCLR = D3R新 第六十六页，共一百四十一页。 一.平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) H.有關管制的概念﹕ 在一個生產過程中永遠無法達到一種完美的管制狀態。過程管制圖的目的不是完美的而是合理﹑經濟的管制狀態。因此﹐在實踐中﹐一個受控的過程不是圖上無任何失控之處的過程。 第六十七页，共一百四十一页。 一.平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 4.過程能力解釋﹕ 過程能力解釋的几個假設﹕ ? 過程處于統