集成电路测试仪控制电路与分选系统接口技术分析.pdf
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摘 要
随着集成电路技术和集成电路测试技术的飞速发展,集成电路的分选技术也紧
随其后,得到了飞快的发展。随着集成电路测试技术的发展,现在的分选系统有
了极大的提高,现在的分选系统主要是采用自动分选系统,即不用手工来分类。
本课题所研究的是集成电路测试仪控制电路与分选系统接口,通过这个接口能
够确保集成电路测试仪与分选系统之间正确的通信。通过集成电路测试仪控制电
路与分选系统的接口,可以解读由测试仪和分选系统发出来的信息,并根据此信
息来产生相应的逻辑信号作为状态信号发送给测试仪和分选系统。以实现对 BIN
的分类、多站点的控制,及延时的控制等。通俗地说就是对分选系统和测试系统
所发出的信号,加以解读,产生相应的 TTL 信号,和准确的延时,从而确保测试
系统和分选系统之间的正确通信。
集成电路测试仪通过其接口控制电路,能够同时对两台分选机进行控制,即能
够同时对两个 PHI 接口(集成电路测试仪与分选系统的接口)、四个站点进行控制
测量。这样的搭配方式极其灵活,既可以选择单站点,又可以选择多站点以及串
行、并行等不同的方式来搭配测量,极大合理的利用了测试资源。
自动分选系统能够对测试完的集成电路进行错误分类(BIN ),并且针对测试
完的集成电路有自动下料机构和手动下料机构,我们既可以选择自动下料机构下
料,又可以手动下料,极大的提高了集成电路分类的准确性和下料的灵活性。
本课题所研究的监控系统又可以对系统中其他各路的电源进行监控,这样就确
保了各路电源的工作正确性,为其他电路的工作减轻了后顾之忧。
而继电器矩阵模块又能对继电器矩阵进行控制,在不同的控制方式下,能够对
不同的通道测量进行选择,同时又可以控制电路控制对继电器的不同搭配来组成
不同的测试电路,对集成电路的不同参数进行测量。
关键词:集成电路测试仪、分选系统、IC
I
ABSTRACT
In this technology community, the development of integrated circuit technology
has been unstoppable momentum, integrated circuits industry in the electronics industry
has occupied a large share that can be said that the development of modern electronics
industry has been inseparable from the integrated circuit, and modern social progress
are closely linked with the development of IC industry.
IC testing technology is along with the development of integrated circuit
technology developed, it is tight with the step of the development of integrated circuits,
integrated circuit testing technology has also become an important pillar of the three
technologies of the integrated circuit technology, it can be said to determine the quality
of an integrated circuit, IC testing technology plays an indispensable role.
With the rapid development of these two technologies, integra
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