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MOS基本原理.ppt

发布:2017-08-08约6.21千字共50页下载文档
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场效应管电路分析方法与三极管电路分析方法相似,可以采用估算法分析电路直流工作点;采用小信号等效电路法分析电路动态指标。 3.1.5 MOS管电路分析方法 场效应管估算法分析思路与三极管相同,只是由于两种管子工作原理不同,从而使外部工作条件有明显差异。因此用估算法分析场效应管电路时,一定要注意自身特点。 估算法 退出 MOS管截止模式判断方法 假定MOS管工作在放大模式: 放大模式 非饱和模式(需重新计算Q点) N沟道管:VGS VGS(th) P沟道管:VGS VGS(th) 截止条件 非饱和与饱和(放大)模式判断方法 a)由直流通路写出管外电路VGS与ID之间关系式。 c)联立解上述方程,选出合理的一组解。 d)判断电路工作模式: 若|VDS| |VGS–VGS(th)| 若|VDS| |VGS–VGS(th)| b)利用饱和区数学模型: 退出 例1 已知?nCOXW/(2l)=0.25mA/V2,VGS(th)= 2V, 求ID 解: 假设T工作在放大模式 VDD (+20V) 1.2M? 4k? T S RG1 RG2 RD RS 0.8M? 10k? G ID 带入已知条件解上述方程组得: ID= 1mA VGS= 4V 及 ID= 2.25mA VGS= -1V (舍去) VDS= VDD-ID (RD + RS)= 6V 因此 验证得知: VDS VGS–VGS(th) , VGS VGS(th), 假设成立。 退出 小信号等效电路法 场效应管小信号等效电路分法与三极管相似。 利用微变等效电路分析交流指标。 画交流通路 将FET用小信号电路模型代替 计算微变参数gm、rds 注:具体分析将在第四章中详细介绍。 退出 3.2 结型场效应管 JFET结构示意图及电路符号 S G D S G D P + P + N G S D N沟道JFET P沟道JFET N + N + P G S D 退出 * 第三章 晶体场效应管 * 3.2 结型场效应管 3.3 场效管应用原理 3.1 MOS场效应管 第三章 场效应管 退出 概 述 场效应管是另一种具有正向受控作用的半导体器件。它体积小、工艺简单,器件特性便于控制,是目前制造大规模集成电路的主要有源器件。 场效应管与三极管主要区别: 场效应管输入电阻远大于三极管输入电阻。 场效应管是单极型器件(三极管是双极型器件)。 场效应管分类: MOS场效应管 结型场效应管 退出 3.1 MOS场效应管 P沟道(PMOS) N沟道(NMOS) P沟道(PMOS) N沟道(NMOS) MOSFET 增强型(EMOS) 耗尽型(DMOS) N沟道MOS管与P沟道MOS管工作原理相似,不同之处仅在于它们形成电流的载流子性质不同,因此导致加在各极上的电压极性相反。 退出 N + N + P + P + P U S G D 3.1.1 增强型MOS场效应管 N沟道EMOSFET结构示意图 源极 漏极 衬底极 SiO2 绝缘层 金属栅极 P型硅 衬底 S G U D 电路符号 l 沟道长度 W 沟道宽度 退出 N沟道EMOS管外部工作条件 VDS 0 (保证栅漏PN结反偏)。 U接电路最低电位或与S极相连(保证源衬PN结反偏)。 VGS 0 (形成导电沟道) P P + N + N + S G D U VDS - + - + VGS N沟道EMOS管工作原理 栅?衬之间相当于以SiO2为介质的平板电容器。 退出 N沟道EMOSFET沟道形成原理 假设VDS =0,讨论VGS作用 P P + N + N + S G D U VDS =0 - + VGS 形成空间电荷区 并与PN结相通 VGS? 衬底表面层中 负离子?、电子? VGS ? 开启电压VGS(th) 形成N型导电沟道 表面层 np VGS越大,反型层中n 越多,导电能力越强。 反型层 退出 VDS对沟道的控制(假设VGS VGS(th) 且保持不变) VDS很小时 → VGD ?VGS 。此时W近似不变,即Ron不变。 由图 VGD = VGS - VDS 因此 VDS?→ID线性 ?。 若VDS ?→则VGD ? →近漏端沟道? → Ron增大。 此时 Ron ?→ID ?变慢。 P P + N + N + S G D U VDS - + VGS - + P P + N + N +
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