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(高清版)DB32∕T 4894-2024 微机电系统半导体气体传感器性能检测方法.docx

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ICS31.080CCSL40

江苏省地方标准

DB32/T4894—2024

微机电系统半导体气体传感器性能检测方法

Testmethodforperformanceofmicro-electromechanicalsystemssemiconductorgassensor

2024-11-07发布2024-12-07实施

江苏省市场监督管理局中国标准出版社

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DB32/T4894—2024

目次

前言 Ⅲ

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4试验条件 1

5检测方法 2

6检测报告 5

附录A(资料性)测试箱装置介绍与气体配制方法 6

参考文献 8

DB32/T4894—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由江苏省纳米技术标准化技术委员会提出、归口并组织实施。

本文件起草单位:苏州市计量测试院、苏州慧闻纳米科技有限公司。

本文件主要起草人:史苏娟、方丹、耿彦红、王瑞、董亮华、徐春、王震、孙旭辉。

DB32/T4894—2024

1

微机电系统半导体气体传感器性能检测方法

1范围

本文件规定了微机电系统半导体气体传感器性能检测的试验条件、检测方法及检测报告。本文件适用于微机电系统半导体气体传感器的性能检测。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

微机电系统micro?electromechanicalsystems;MEMS

基于微纳制造技术制备的功能结构、器件构成的系统。

[来源:GB/T26111—2023,3.1.1]3.2

半导体气体传感器semiconductorgastransducer/sensor

利用半导体材料的电导率变化,将感受的气体转换成可用输出信号的传感器。

注:包括表面电导式传感器和体电导式传感器。

[来源:GB/T7665—2005,3.3.1.1,有修改]3.3

传感器检测装置sensortestmodule

用于将传感器特性转换为输出信号的测试装置。

[来源:GB/T34004—2017,3.5]

4试验条件

4.1环境条件

实验室内环境条件应符合以下要求:

a)环境温度:15℃~35℃,试验过程中温度波动不应超过±2℃;

b)相对湿度:25%~80%,试验过程中相对湿度波动不应超过±5%;

c)大气压力:86kPa~116kPa。

4.2试验设备

试验设备应符合以下要求:

2

DB32/T4894—2024

a)秒表:分度值不大于0.1s;

b)功率计:功率0W~10W,分辨力0.1mW,最大允许误差:±10%;

c)电压表:直流电压0V~50V,准确度级别优于1.0级;

d)测试箱:测试箱内部结构及气体配制方法参照附录A。

4.3样品准备

4.3.1试验前通过目视、拍照等方法检查传感器表面,应无腐蚀、起泡现象,无明显划伤、裂痕、毛刺等机械损伤。

4.3.2试验前待试验的样品应在4.1规定的环境条件下通电预热后方可进行检测,预热时间以产品使用说明书为准。

4.3.3传感器送检时同时提供检测装置,在测试传感器信号输出时把传感器安装在该装置上进行试验。

4.3.4样品检测项目与样品编号对应表见表1。完成全部检测项目需要的样品数量为8只,试验前应对样品予以编号。具体样品数量根据检测项目与客户协商确定。

表1检测项目与样品编号对应表

序号

章条编号

检测项目

传感器编号

1

2

3

4

5

6

7

8

1

5.1

功率

2

5.2

传感器最低检测浓度

3

5.3

传感器灵敏度

4

5.4

传感器检测误差

5

5.5

响应时间与恢复时间

6

5.6

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