(高清版)DB32∕T 4894-2024 微机电系统半导体气体传感器性能检测方法.pdf
ICS31.080
CCSL40
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DB32/T4894—2024
微机电系统半导体气体传感器性能
检测方法
Testmethodforperformanceofmicro⁃electromechanicalsystems
semiconductorgassensor
2024-11-07发布2024-12-07实施
江苏省市场监督管理局发布
中国标准出版社出版
DB32/T4894—2024
目次
前言……………………………Ⅲ
1范围…………………………1
2规范性引用文件……………1
3术语和定义…………………1
4试验条件……………………1
5检测方法……………………2
6检测报告……………………5
附录A(资料性)测试箱装置介绍与气体配制方法…………6
参考文献…………………………8
Ⅰ
DB32/T4894—2024
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由江苏省纳米技术标准化技术委员会提出、归口并组织实施。
本文件起草单位:苏州市计量测试院、苏州慧闻纳米科技有限公司。
本文件主要起草人:史苏娟、方丹、耿彦红、王瑞、董亮华、徐春、王震、孙旭辉。
Ⅲ
DB32/T4894—2024
微机电系统半导体气体传感器性能
检测方法
1范围
本文件规定了微机电系统半导体气体传感器性能检测的试验条件、检测方法及检测报告。
本文件适用于微机电系统半导体气体传感器的性能检测。
2规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
微机电系统micro⁃electromechanicalsystems;MEMS
基于微纳制造技术制备的功能结构、器件构成的系统。
[来源:GB/T26111—2023,3.1.1]
3.2
半导体气体传感器semiconductorgastransduc