数字电子技术实验1TTL门.pptx
数字电子技术实验
张学文
双踪示波器
TTL集成逻辑门的功能与参数测试
CMOS集成逻辑门的功能验证与参数测试
TTL集电极开路门与三态输出门的应用
组合逻辑电路的设计与测试
译码器及其应用
数据选择器及其应用
触发器及其应用
计数器及其应用
智力竞赛抢答装置
电子秒表
集成定时器
数字电子技术实验
实验2.1TTL集成逻辑门的参数测试
预习要求
01
实验目的
02
实验器件
03
实验原理
04
实验内容
05
实验重点
06
实验难点
07
实验报告
08
实验操作要点
09
思考题
10
01
熟悉实验台与实验箱的功能及构造。
03
了解TTL与非门主要参数的定义和意义。
05
熟悉TTL与非门74LS20的外引线排列。
02
认真阅读教材附录2，了解集成电路的品种代号及功能。
04
熟悉各测试电路，了解测试原理和测试方法。
06
自拟实验数据表格。
预习要求
掌握集成与非门的主要参数、特性的意义及测试方法。
01.
熟悉数字电子技术实验箱的基本功能和使用方法。
02.
实验目的
电源:＋5V，－5V、＋12V，－12V、＋15V，－15V等。
01
1～1000Hz脉冲信号、正负两路单次脉冲、复位信号等。
02
8～16位逻辑开关、8～16位电平指示器。
03
BCD译码显示器。
04
其它：逻辑笔、拨码开关等
05
数字电路实验箱具有的功能简介
01
EEL-08组件或数字电路实验箱
02
示波器
03
直流电压表
04
毫安表
05
4输入双与非门74LS20。
06
电阻：680，200，1K共3个
07
电位器：1K，10K共2个
实验器件
A
将集成块缺口向右插到实验箱上的中心槽上下两侧，牢固后按要求插接连线。
B
接通电源前应先检查稳压电源是否为+5V，连线是否有误，以防烧坏集成块。
实验操作要点及注意事项：
随着半导体技术的发展,现代电子技术已经能把电路中的半导体器件、电阻、电容及连线都制作在一块半导体基片上，构成一个完整的电路，并封装在一个管壳内，这就是集成电路。与分立元件相比，集成电路具有体积小、重量轻、可靠性高、寿命长、功耗小、成本低和工作速度快等优点。因此，在数字电路领域中，集成电路几乎取代了所有分立元件电路。目前，应用最广的集成电路是和这两类集成门电路。
当前，数字电路中仍然经常使用的大量的逻辑门，如与门、非门、或门、与非门、或非门等。以与非门使用为例，电路中使用的与非门应能满足设计要求，以保证电路可靠、稳定的工作。但与非门的性能指标在制造过程中就已确定了，无法对它的参数进行调整。因此，在使用前对它进行严格挑选就显得十分必要了。挑选的程序之一，便是对其进行参数测试。
实验原理
万用表测量与非门电路情况表
测量项目
正常值
不正常值
万用表接法
输入输出各端对电源地端
5k左右
1k或12k
黑表笔接地端，红表笔接其它各端
正电源端对电源地端
3k左右
0或无穷大
黑表笔接地端，红表笔接其它各端
输入输出各端对电源地端
40k
12k
红表笔接地端，黑表笔接其它各端
正电源端对电源地端
40k左右
0或无穷大
红表笔接地端，黑表笔接其它各端
集成块外形图
TTL门电路芯片简介
如：TTL门电路芯片（四2输入与非门，型号74LS00)
地GND
外形
14
13
12
11
10
9
8
1
2
3
4
5
6
7
管脚
电源VCC（+5V）
常用TTL逻辑门电路
名称
国际常用系列型号
国产部标型号
说明
四2输入与非门
74LS00
T1000
四2输入或门
四2异或门
四2输入或非门
四2输入与门
双4输入与非门
双4输入与门
六反相器
8输入与非门
74LS32
74LS02
74LS08
74LS86
74LS21
74LS20
74LS30
74LS04
T186
T1008
T1086
T1021
T1002
一个组件内部有四个门，每个门有两个输入端一个输出端。
一个组件内有两个门，每个门有4个输入端。
只一个门，8个输入端。
有6个反相器。
TTL门电路的主要技术参数
1)输出高电平、低电平
高电平:3.4V--4V以上
低电平以下
2)阈值电压：
UTH=1.4V
VI
VO
高电平
低电平
1
VO
VI
UTH=1.4V
74LS２０内部逻辑图及引脚排列
如图2.1-l（a）、（b）所示
与非门74LS20的逻辑功能表
输入
输出
A
B
C
D
F
0
0
0
0
1
0
0
0
1
1
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
0
1
0
0
1
0
1
0
1
1
0
1
1
0
1
0
1
1
1