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数模混合电路抗单粒子加固技术的深度剖析与创新实践
一、引言
1.1研究背景与意义
在现代电子技术飞速发展的今天，数模混合电路作为一种能够融合数字电路高速处理能力与模拟电路连续信号处理优势的关键技术，被广泛应用于航天、核能、通信等众多领域。然而，随着这些领域对电路可靠性要求的不断提高，数模混合电路在复杂辐射环境下的可靠性问题逐渐凸显出来，其中单粒子效应成为了影响其可靠性的重要因素。
在空间辐射环境中，存在着大量的高能粒子，如质子、重离子等。这些高能粒子具有极高的能量，当它们入射到数模混合电路中的敏感区域时，会与电路中的原子发生相互作用，导致单粒子效应的产生。单粒子效应主要包括单粒子翻转（SE
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