平面面形子孔径拼接干涉测量装置与测量方法.pdf

扩径锚孔孔径测量装置与测量方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114543631 A (43)申请公布日 2022.05.27 (21)申请号 202210205396.8 (22)申请日 2022.03.04 (71)申请人江苏和跃新材料科技有限公司地址

2023-05-08 约3.3万字 29页立即下载

大口径光学平面干涉检测的子孔径拼接研究的任务书.docx 大口径光学平面干涉检测的子孔径拼接研究的任务书任务书 1.背景与意义大口径光学平面干涉检测技术在现代制造过程中扮演着重要角色，它是在制造过程中检测光学表面质量的重要手段。该技术的优点是非接触、高精度和高灵敏度。然而，大口径光学平面干涉检测在实际应用中遇到了许多问题，例如，空间光束相互干涉、光束折射和散射等。这些问题都会导致大口径光学平面干涉检测的扩展性和应用范围受到限制。因此，本项目旨在解决大口径光学平面干涉检测技术的扩展性和应用范围问题，采用子孔径拼接技术来提高大口径光学平面干涉检测技术的精度和准确性，为现代制造业的发展做出贡献。 2.研究目的本项目的研究目的如下： (1)探究子孔径

2024-04-01 约1.22千字 3页立即下载

子孔径拼接干涉测量一大口径双曲面_英文_.pdf 第卷第期年月 38 1 红外与激光工程 2009 2 Vol.38 No.1 Infr

2017-05-13 约4.55万字 6页立即下载

子孔径拼接干涉测量一大口径双曲面.pdf 第38卷第1期红外与激光工程 2009年2月 V01．38NO．1 InfraredandLaser Feb．2()09 Engineering for Subaperturestitchingin

2017-05-12 约字 7页立即下载

超精密球度的激光干涉测量方法.pdf 维普资讯 8，一lD 1999年4月宇航计测技术第 19卷第 2期超精密球度的激光干涉测量方法朱正辉一 - ● — — 一缪寅宵弋8r83C} J 文摘传统的球度删茸方法很难达到亚微米级的测量准

2017-09-28 约字 3页立即下载

基于白光干涉的纳米膜层测量方法.docx 题目：基于白光干涉的纳米膜层测量方法目录 TOC\o1-3\h\z\u摘要 1 Abstract 2 1绪论 3 1.1薄膜厚度对薄膜性能的影响 3 1.2常用膜厚测量方法介绍 3 1.3本文的主要工作内容 5 2白光干涉测量薄膜厚度原理 6 2.1部分相干光理论 6 2.1.1部分相干光的复数表示与光强 6 2.1.2互相干函数和复相干度 7 2.1.3频谱干涉和谱相干度 7 2.2薄膜的多光束干涉原理 8 2.3白光反射光谱原理 9 2.3.1极值法 9

2024-09-12 约1.59万字 22页立即下载

平面度定义及测量方法.pptx ;平面度公差实例;平面度测量方法① 测量工具：塞尺测量方法： 1、将待测产品固定在基准平台，待检测面向下放置，贴合平台表面。如图2 2、在产品边缘插入塞尺，如细节图所示。 ;平面度测量方法② 测量工具：百分表测量方法： 1、将产品固定在基准平台的垫块上。如图1所示 2、将百分表在A点调0沿路径到B点。记录过程中显示数据大小。取最大值和最小值。判定标准：测定值=最大值-最小值测定值≤要求公差值

2025-04-20 约小于1千字 4页立即下载

平面度常识及测量方法.docx 平面度误差测量数据处理。在大中专学校机械类各专业中，《互换性与测量技术基础》就就是一门重要得技术基础课,该课程内容十分丰富，而教学课时相对较少，许多重点和难点内容难以作详细讲解。其中形位公差与技术测量得内容学生理解掌握更为困难,在四项形位公差中,直线度与平面度误差得测量就就是一般机械制造行业主要得检测项目,故要求学生重点学习和掌握。直线度误差得测量相对较为简单,而平面度误差得测量及数据处理比较复杂,且理解困难。本文仅对平面度误差得测量和数据处理作较为详细得介绍,希冀初学者能尽快掌握这一重点和难点内容。一、平面度误差得测量平面度误差就就是指被测实际表面对其理想平面得变动量。平面度误差就就

2025-05-19 约4.75千字 5页立即下载

平面度定义及测量方法.pptx ;平面度公差实例;平面度测量方法① 测量工具：塞尺测量方法： 1、将待测产品固定在基准平台，待检测面向下放置，贴合平台表面。如图2 2、在产品边缘插入塞尺，如细节图所示。 ;平面度测量方法② 测量工具：百分表测量方法： 1、将产品固定在基准平台的垫块上。如图1所示 2、将百分表在A点调0沿路径到B点。记录过程中显示数据大小。取最大值和最小值。判定标准：测定值=最大值-最小值测定值≤要求公差值

2025-04-11 约小于1千字 4页立即下载

微小光学零件表面轮廓的白光干涉拼接测量装置及方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113340232 B (45)授权公告日 2022.06.21 (21)申请号 202110583883.3 (56)对比文件

2023-06-16 约1.53万字 16页立即下载

测量装置及测量方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114793139 A (43)申请公布日 2022.07.26 (21)申请号 202111591460.2 (22)申请日 2021.12.23 (30)优先权数据

2023-05-13 约2.53万字 22页立即下载

相对孔径标准测量方法及注意事项.docx 相对孔径标准测量方法及注意事项相对孔径标准测量方法及注意事项一、相对孔径标准测量方法相对孔径是光学系统中一个重要的参数，直接影响光学设备的成像质量和性能。为了确保测量结果的准确性和一致性，必须采用标准化的测量方法。以下是几种常见的相对孔径标准测量方法及其具体步骤。 1.直接测量法直接测量法是通过测量光学系统的实际孔径和焦距来计算相对孔径。具体步骤如下：（1）使用精密测量工具（如卡尺或激光测距仪）测量光学系统的有效孔径直径（D）。（2）通过光学实验或设备说明书获取光学系统的焦距（f）。（3）根据公式\(f/D\)计算相对孔径。直接测量法的优点是操作简单，适用于大多数光学系统。然而

2025-03-21 约4.54千字 10页立即下载

相对孔径标准测量方法及注意事项.docx 相对孔径标准测量方法及注意事项相对孔径标准测量方法及注意事项一、相对孔径标准测量方法的基本原理与流程相对孔径是光学系统中一个重要的参数，它直接影响光学系统的通光能力和成像质量。为了确保光学系统的性能，必须采用科学、准确的测量方法。相对孔径的标准测量方法主要包括以下几个步骤： 1.测量前的准备工作在进行相对孔径测量之前，首先需要对测量设备进行校准，确保设备的精度和稳定性。同时，准备好待测光学系统，确保其表面清洁无污染，避免因污渍或灰尘影响测量结果。此外，还需要根据待测光学系统的特性，选择合适的测量仪器和方法。 2.测量设备的选择与使用常用的相对孔径测量设备包括光功率计、光束分析仪和光学

2025-03-14 约4.54千字 11页立即下载

相对孔径标准测量方法及注意事项.docx 相对孔径标准测量方法及注意事项相对孔径标准测量方法及注意事项一、相对孔径标准测量方法及注意事项的基本概念与背景相对孔径是光学系统中一个重要的参数，直接影响光学设备的成像质量和光通量。它通常表示为光圈值（F-number），是光学系统焦距与入射光瞳直径的比值。相对孔径的测量对于光学设计、制造和应用具有重要意义。在实际测量过程中，需要采用标准化的方法，并注意相关事项，以确保测量结果的准确性和可靠性。（一）相对孔径的定义与意义相对孔径是光学系统的一个重要性能指标，它决定了光学设备的光通量和景深。在摄影、显微镜、望远镜等光学设备中，相对孔径的大小直接影响成像的亮度和清晰度。因此，准确测量相对

2025-03-11 约4.91千字 11页立即下载

子孔径拼接光谱定标检测装置及其检测方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116399561 A (43)申请公布日 2023.07.07 (21)申请号 202310343770.5 (22)申请日 2023.03.31 (71)申请人中国科学院长春光学精密机械与物

2023-07-05 约9.44千字 10页立即下载