—种碲镉汞外延薄膜厚度精准测量装置.pdf

薄膜厚度与折射律的测量.doc 薄膜厚度与折射律的测量在三级实验中测量薄膜厚度与折射律的方法共介绍了两个：椭圆偏振光法和迈克尔逊方法。椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射律思路：在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后,光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的.通常,设介质层为n1、n2、n3,φ为入射角,那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉,如图(1-1) 介质n0 界面1 薄膜n1 衬底n2

2017-08-24 约1.82千字 4页立即下载

金属薄膜厚度的测量.pdf , 7 ! 7 , ! ∀ 2 # ∃ #% ( ) ∗+ , − . / . 0 ∗ . 2 3 ) 5 7 ,

2015-09-22 约字 2页立即下载

光的干涉测量薄膜厚度.ppt 实验.测量1A薄膜厚度一，实验目的：测量1A薄膜的厚度二，实验工具：迈克尔逊干涉仪，厚度未知折射率为n的透明薄膜三，实验原理：利用试验时两条光路的光程差和试验时条纹前后条纹移动数N条。最后利用公式： n(D-d)=N人四，实验内容及步骤 1。使用前仪器的调节（一）调整迈克尔逊干涉仪，观察非定域干涉、等倾干涉的条纹① 对照实物和讲义，熟悉仪器的结构和各旋钮的作用；② 点燃He—Ne激光器，使激光大致垂直M1。这时在屏上出现两排小亮点，调节M1和M2背面的三个螺钉，使反射光和入射光基本重合（两排亮点中最亮的点重合且

2017-07-01 约3.7千字 33页立即下载

《《用薄膜测厚仪测量薄膜厚度及折射率》》.doc 材料物理实验报告 [实验原理3311”，即“Int. Time”值为3，“Sample”值为3， “Boxcar”值为1，“Data Ave.”值为1。 3 测厚仪出厂时，焦距已调好，近似认为出射为平行光，省略调焦步骤。在平台上放上参考硅片，调节水平旋钮1，2，使软件界面“Power”值最大。即可认为样品表面和光束垂直。 4 调节光阑大小，试软件界面上左侧的坐标达到“4000”。 5 按下“Store Reference”来保存参考板曲线。 6 拿开硅片，按下“Store Dark”来保存暗噪声。 7 放上待测样品，调节水平旋钮1，2使“Power”最大。 8 点击“

2016-09-14 约1.11千字 4页立即下载

一种膜厚度测量装置.pdf (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218595620 U (45)授权公告日 2023.03.10 (21)申请号 202222934857.3 (22)申请日 2022.11.04 (73)专利权人立铠精密科技（盐城）有限公司地址

2023-03-10 约1.48万字 13页立即下载

用椭圆偏振仪测量薄膜厚度.ppt 用椭圆偏振仪测量薄膜厚度电科091刘涛了解薄膜的厚度测量的基本原理。利用椭圆偏振光消光法，测定透明薄膜的厚度。01教学重点、难点：节课教学重点：测量薄膜厚度。节课教学难点：实现椭圆偏振光消光。02教学目的与要求实验原理有一束自然光通过起偏器后，变成了线偏振光，再经过一个波片，变成了椭圆偏振光。这样的椭圆偏振光入射到待测的薄膜表面上时，反射光的偏振状态发生了变化。我们测量这种变化，就可以计算出待测薄膜的厚度。椭偏方程与薄膜折射率和厚度的测量1所示为一光学均匀和各向同性的单层介质膜，它有两个平行的界面。通常，上部是折射率为n1的空气(或真空)．中间是一层厚度为d折射率为n2的介质薄膜，下层是折射率

2025-02-24 约1.84千字 10页立即下载

牛顿环实验的应用测量透明薄膜的厚度.docx 牛顿环实验的应用测量透明薄膜的厚度牛顿环实验的应用测量透明薄膜的厚度一、引言牛顿环实验是一种利用光的干涉现象来研究薄膜厚度和光波波长等物理量的实验方法。该实验最早由牛顿提出，故命名为牛顿环实验。本文将详细介绍牛顿环实验的原理、实验步骤以及应用，特别是其在测量透明薄膜厚度方面的应用。二、牛顿环实验原理牛顿环实验是基于光的干涉现象，当一束平行光垂直照射到两个平行的透明平板之间时，两平板之间的空气薄膜将产生干涉现象。当光程差等于光波长的整数倍时，产生明纹；当光程差等于光波长的奇数倍的一半时，产生暗纹。根据明纹和暗纹的位置，可以计算出薄膜的厚度。三、实验步骤 1.准备实验器材：牛顿环装置、

2025-02-17 约小于1千字 2页立即下载

薄膜厚度的在线和非在线的测量方法.doc 薄膜厚度的在线和非在线的测量方法 2005-7-12 15:54:52 中国包装网　　薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。很显然，倘若一批单层薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要，只有整体厚度均匀，每一层树脂的厚度才可能均匀。因此，薄膜厚度是否均匀，是否与预设值一致，厚度偏差是否在指定的范围内，这些都成为薄膜是否能够具有某些特性指标的前提。薄膜厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。　　1. 各种在线和非在线测厚技术发展快速包装材料厚度的测试最早用于薄膜厚度测量的是非在线测厚技术。之后，随着射线技术

2018-04-18 约3.19千字 3页立即下载

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率.doc.doc 椭偏仪测量薄膜厚度和折射率【引言】椭圆偏振测量（椭偏术）是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法，其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。椭圆偏振测量的应用范围很广，如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃(或镀膜)、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等，也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。结合计算机后，具有可手动改变入射角度、实时测量、快速数据获取等优点。【实验目的】掌握椭偏仪的原理与操作方法；学会利用椭偏仪进行相关物理量的测量。【实验仪器】椭偏仪、待测样品、电脑WJZ－II椭偏仪结构如图1所示：1

2018-07-10 约8.06千字 15页立即下载

用椭圆偏振仪测量薄膜厚度——叶昕.ppt

2018-11-30 约字 28页立即下载

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率讲义..doc 实验:椭圆偏振法测量薄膜厚度和折射率随着现代科技的快速发展，薄膜材料的研究和应用受到越来越多的关注。如何快速准确的测量薄膜材料的厚度和折射率等光学参数成为急需解决的问题之一。椭圆偏振法是一种先进的测量薄膜纳米级厚度的方法，这种方法测量灵敏度高(可探测小于0.1nm的厚度变化)、精度较好(比干涉法高一到两个数量级)、对待测样品无损伤并且能同时测量薄膜的厚度和折射率。因而，目前椭圆偏振法已经在光学、半导体、生物、医学等诸方面得到较为广泛的应用。实验目的：了解椭圆偏振测量的基本原理，掌握利用椭偏仪测量薄膜厚度和折射率的基本方法。学会组装椭圆偏振仪，熟悉椭圆偏振仪使

2017-01-08 约3.9千字 11页立即下载

多腔室半导体薄膜外延装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112795983 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 202011584692.0 (22)申请日 2020.12.28 (71)申请人中国

2023-06-04 约9.7千字 8页立即下载

一种测量滑轮片厚度的装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213147646 U (45)授权公告日 2021.05.07 (21)申请号 202022210458.3 (22)申请日 2020.09.30 (73)专利权人日照钢铁控股集团有限公司

2023-03-01 约3.8千字 5页立即下载

接触式厚度测量装置.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114812345 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202110127440.3 (22)申请日 2021.01.29 (71)申请人汉达精密电子（昆山）有限公司地址

2023-05-13 约6.83千字 8页立即下载

牙槽骨壁厚度测量装置及牙槽骨壁厚度测量方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112807121 A (43)申请公布日 2021.05.18 (21)申请号 202110217132.X (22)申请日 2021.02.26 (71)申请人桂林市啄木鸟医疗器械有限公司

2023-06-04 约1.03万字 11页立即下载