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一种电子元器件X射线检查缺陷自动识别方法.pdf

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113409245 A (43)申请公布日 2021.09.17 (21)申请号 202110365561.1 G06K 9/62 (2006.01)
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