文档详情

探针卡装置及其测试设备.pdf

发布：2023-05-08约1.28万字共12页下载文档

文本预览下载声明

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116087574 A (43)申请公布日 2023.05.09 (21)申请号 202111305453.1 (22)申请日 2021.11.05 (71)申请人思达尔科技（武汉）有限公司地址

显示全部

相似文档

一种探针弯折装置及其应用.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112974667 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202110397885.3 (22)申请日 2021.04.14 (71)申请人无锡紫电半导体有限公司
2023-06-07 约9.71千字 9页立即下载
单晶粒探针台及其专用筛盘装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213149158 U (45)授权公告日 2021.05.07 (21)申请号 202021220289.5 (22)申请日 2020.06.29 (73)专利权人乐山嘉洋科技发展有限公司
2023-03-01 约8.13千字 10页立即下载
一种芯片测试用探针和芯片测试装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113009196 B (45)授权公告日 2022.03.18 (21)申请号 202110231417.9 G01R 31/28 (2006.01) (22)申请日
2023-06-06 约7.93千字 7页立即下载
基于扫描探针的纳米颗粒三维操控装置及其方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112834786 B (45)授权公告日 2022.05.17 (21)申请号 202110026544.5 G01Q 20/02 (2010.01)
2023-06-06 约5.75千字 6页立即下载
垂直式探针头及其双臂式探针.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113376413 A (43)申请公布日 2021.09.10 (21)申请号 20201
2023-06-19 约1.65万字 23页立即下载
垂直式探针头及其分支式探针.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113376412 A (43)申请公布日 2021.09.10 (21)申请号 20201
2023-06-18 约1.67万字 25页立即下载
一种探针式电控柜测试机及其测试方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114879643 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210564699.9 (22)申请日 2022.05.23 (71)申请人湖南世优电气股份有限公司地址 4
2023-05-15 约9.42千字 9页立即下载
制造光纤传感器探针的设备及其制造方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114829999 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202080083434.6 (74)专利代理机构北京市中伦律师事务所
2023-05-17 约2.08万字 25页立即下载
扫描探针显微镜的测量装置和利用扫描探针显微镜对测量样品进行扫描探针显微测试的方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112824907 A (43)申请公布日 2021.05.21 (21)申请号 202011322093.1 B82Y 35/00 (2011.01) (22)申请日 2
2023-06-03 约1.93万字 18页立即下载
探针调整方法、装置、电子设备和存储介质.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114184931 A (43)申请公布日 2022.03.15 (21)申请号 202111311250.3 (22)申请日 2021.11.08 (71)申请人深圳橙子自动化有限公司
2023-04-24 约1.71万字 16页立即下载
5、斜置式Rymaszewski法方形四探针测试仪及其应用.doc 四探针技术测量薄层电阻的原理及应用刘新福，孙以材，刘东升（河北工业大学微电子技术研究所）摘要对四探针技术测试薄层电阻的原理进行了综述，重点分析了常规直线四探针法、改进范德堡法和斜置式方形Rymaszewski 法的测试原理，并应用斜置式Rymaszewski 法研制成新型的四探针测试仪，利用该仪器对样品进行了微区（300μm×300μm）薄层电阻测量，做出了样品的电阻率等值线图，为提高晶锭的质量提供了重要参考。关键词：四探针技术薄层电阻测试技术中图分类号：TN304.07 文献标识码：A 文章编号：1003-353X(2004)07-0048-05 引言许多器件的重要参数和薄层电阻
2017-06-06 约4.36千字 8页立即下载
一种晶振电性能测试用探针寿命检测装置.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213023245 U (45)授权公告日 2021.04.20 (21)申请号 202020287443.4 (22)申请日 2020.03.10 (73)专利权人杭州鸿星电子有限公司
2023-02-23 约6.25千字 7页立即下载
一种测试系统及其搭建方法、装置、设备、介质.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114884931 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210459320.8 (22)申请日 2022.04.27 (71)申请人京东科技控股股份有限公司地址 1
2023-05-15 约2.56万字 20页立即下载
一种检测晶圆测试探针卡状态的设备、晶圆结构和方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113391181 A (43)申请公布日 2021.09.14 (21)申请号 202110566373.5 (22)申请日 2021.05.24 (71)申请人长江存储科技有限责任公司
2023-06-19 约1.52万字 16页立即下载
用于自动化测试设备的探针卡中的换位通孔布置.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114829957 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202080086662.9 (74)专利代理机构中原信达知识产权代理有限
2023-05-16 约2.32万字 23页立即下载