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一种晶振电性能测试用探针寿命检测装置.pdf

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213023245 U (45)授权公告日 2021.04.20 (21)申请号 202020287443.4 (22)申请日 2020.03.10 (73)专利权人 杭州鸿星电子有限公司
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