同轴探头法测量片状介质材料的微波介电常数.pdf

第 卷第 期 压 电 与 声 光 ’ r r’ )ce c 年 月 ##’ r##’ *(+,-+k+t2i(ts. 4t-ps2--*2(ts ]fl /////////////////////////////////////////////////////////////////// 文章编号!’##0$0%0(##’+#’$##,$#) 同轴探头法测量片状介质材料的微波介电常数 吴明忠 姚 熹 张良莹 . . 同济大学 功能材料研究所 上海 ( . ###*+ 摘 要 提出了一种可用于测量片状介质材料微波复介电常数的同轴探头技术 该技术将同轴探头紧贴有导 ! / 电衬底的片状介质 通过测量探头终端的矢量反射系数来确定介质的微波复介电常数 详细介绍了所采用的理论 . / 模型和测量系统 测量了一些常见介质材料的介电常数 测量值与理论值基本吻合 文章的同轴探头技术不仅可用 / . / 于测量厚度较小的片状介质 而且可用于测量样品量有限的液体 . / 关键词 同轴探头 介电常数 介质材料 微波测量 ! 1 1 ! 中图分类号! *’ 文献标识码! 23 4 56789:;==8?6@@66@A5=;BC8=?=D@B9EF6=G=7@867HI==@B JB6DKL9;M6;G89N=O=7ID6PC= R . . R QJ 56DKSI9DKTUV W6XYUZ[ \6;DKA6DK ( . r ###*. + ]^_‘abc_de3dafgbdehifhfdg‘jkdlcgdacgm 2c_nobp_bqfghfam sjd_njdb tjb_d ! UNB@8;7@2jbhudufgugcuchfhd‘cdvbdeugclfaf‘j_bw^fxcgyfdh^gb_nyb‘gczdqf‘cyuefvufgybaabqbamcx{b$ r . . r fef‘agb‘hjffah2jf{bfef‘agb‘hjffahld‘|f{lmd_fef‘agb‘‘c_{^‘acgdgfued‘f{xe^hjzbajajfugclf2jfqde^fhcx . ajf‘cyuefvufgybaabqbamcxajf{bfef‘agb‘hjffahdgf{fafgyb_f{