GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动.pdf
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ICS31.080.01
L40
中华人 民共和 国国家标准
/ — / :
GBT4937.12 2018IEC60749-122002
半导体器件 机械和气候试验方法
:
第 部分 扫频振动
12
— —
Semiconductordevices Mechanicalandclimatictestmethods
: ,
Part12Vibrationvariablefreuenc
q y
( : , )
IEC60749-122002IDT
2018-09-17发布 2019-01-01实施
国家市场监督管理总局
发 布
中国国家标准化管理委员会
/ — / :
GBT4937.12 2018IEC60749-122002
前 言
/ 《 》 :
半导体器件 机械和气候试验方法 由以下部分组成
GBT4937
——— : ;
第 部分 总则
1
——— : ;
第 部分 低气压
2
——— : ;
第 部分 外部目检
3
——— : ( );
第 部分 强加速稳态湿热试验
4 HAST
——— : ;
第 部分 稳态温湿度偏置寿命试验
5
——— : ;
第 部分 高温贮存
6
——— : ;
第 部分 内部水汽含量测试和其他残余气体分析
7
——— : ;
第 部分 密封
8
——— : ;
第 部分 标志耐久性
9
——— : ;
第 部分 机械冲击
10
——— : ;
第 部分 快速温度变化 双液槽法
11
——— : ;
第 部分 扫频振动
12
——— : ;
第 部分 盐雾
13
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