原位电子束辐照诱导Au修饰SiOx纳米线的结构不稳定性研究的中期报告.docx

原位电子束辐照诱导Au修饰SiOx纳米线的结构不稳定性研究的中期报告 本项目旨在研究原位电子束辐照对Au修饰SiOx纳米线结构稳定性的影响。在前期研究中，我们首先利用化学气相沉积法成功在SiOx纳米线表面修饰Au纳米颗粒，并通过高分辨透射电镜、X射线衍射和拉曼光谱等手段表征了纳米线的结构和组成。 目前，我们已经进行了原位电子束辐照实验，并初步进行了相应的结构表征。实验中，我们使用电子显微镜对纳米线在电子束辐照过程中的形貌进行了观察，并在高分辨透射电镜下对修饰纳米颗粒的变化进行了详细的研究。结果显示，在电子束辐照过程中，Au修饰纳米颗粒发生了聚集和重构现象，同时还出现了SiOx纳米线的断裂现象。 进一步的X射线衍射结果表明，随着辐照剂量的增加，SiOx纳米线的晶体结构发生了明显的改变，出现了NaCl型结构和非晶态结构，同时纳米线的晶粒尺寸明显减小。 综合以上实验结果，我们初步得出结论：原位电子束辐照会对Au修饰SiOx纳米线的结构稳定性造成显著影响，导致纳米线的断裂和晶体结构的改变。下一步工作将重点研究原位电子束辐照对Au修饰SiOx纳米线性质的影响机制，并进一步探究如何通过调控修饰纳米颗粒的大小和形貌来增强纳米线的稳定性和性能。