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存储器实验实验报告1.doc

发布:2016-11-08约1.16千字共5页下载文档
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存储器实验课程::实验名称:日期:一、实验目的 了解地址寄存器(AR)中地址的读入 了解STOP和STEP开关的状态设置 了解向存储器RAM中存入数据的方法 了解从存储器RAM中读出数据的 二、实验1、TDN-CM+组成原理实验仪一台 2、导线若干 3、静态存储器:一片6116(2K*8)芯片 地址锁存器(74LS273) 地址灯AD0-AD7 三态门(74LS245) 三、实验原理 实验所用的半导体静态存储器电路原理如图所示, 实验中的静态存储器由一片6116(2K*8)芯片构成,其数据 线接至数据总线,地址线由地址锁存器(74LS273)给出。 地址灯AD0-AD7与地址线相连,显示地址线状况。数据开关 经一个三态门(74LS245)连至数据总线,分时给出地址和 数据。 实验时将T3脉冲接至实验板上时序电路模块的TS3相应插孔 中,在时序电路模块中有两个二进制开关“STOP”和“STEP”,将 “STOP”开关置为“RUN”状态、“STEP”开关置为“EXEC”状态时,按 动微动开关START,则TS3端输出连续的方波信号当“STOP”开 关置为RUN状态,“STEP”开关置为“STEP”状态时,每按动一次 微动开关“start”,则TS3输出一个单脉冲,脉冲宽度与连续 方式相同。 四、实验内容 如下图 存储器实验接线图 (一) 练习使用STEP开关 往地址寄存器(AR)中存入地址 设置STOP和STEP开关的状态: 从数据开关送地址给总线:SW-B=___ 打开AR,关闭存储器:LDAR=___、CE=___ 按下Start产生T3脉冲 关闭AR,关闭数据开关:LDAR=__、SW-B=__ (二) 往存储器RAM中存入数据 设定好要访问的存储器单元地址 从数据开关送数给总线:SW-B=___ 选择存储器片选信号:CE=___ 选择读或写:WE=____ 按下Start产生T3脉冲 关闭存储器片选信号:CE=___ 关闭数据开关: SW-B=___ (三) 从存储器RAM中读出数据 设定好要访问的存储器单元地址 选择存储器片选信号:CE=___ 选择读或写:WE=____ 按下Start产生T3脉冲 关闭存储器片选信号:CE=___ 地址 存入 读出 00 10 01 11 02 12 03 13 04 14 05 15 06 16 五、实验结果总结 六、思考题 在进行存储器操作(写/读)是不是必须先往地址寄存器(AR)存入所访问的存储器单元地址? T3在本实验中起了哪些作用,如何区分它们? 在进行存储器读写操作时,CE和WE信号有没有先后顺序?为什么? 存储器 第 1 页 共 5 页
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