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2025年超大规模集成电路的测试技术 .pdf

发布:2025-03-08约1.9万字共11页下载文档
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为天地立心,为生民立命,为往圣继绝学,为万世开太平。——张载

百川东到海,何时复西归?少壮不努力,老大徒伤悲。——汉乐府

目录

摘要1

关键词1

Abstract1

1引言1

2测试的基本概念2

2.1测试的原理2

2.2测试的环节2

2.3测试的可靠性3

2.4测试的分类3

3测试的难度3

4测试方法4

4.1多工位测试4

4.2SIP测试4

4.3IDDQ测试4

4.4DFT测试.5

4.4.1集成电路的可测试质量评价5

4.4.2可测试性设计的目标5

4.4.3效益和成本的分析5

4.4.4三种DFT方案的对比分析6

4.4.5DFT技术的应用策略7

4.5系统测试7

4.6模拟和混合信号测试7

5总结8

致谢

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