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磁共振弥散张量成像：新生儿缺氧缺血性脑病精准诊疗的新钥匙.docx

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磁共振弥散张量成像：新生儿缺氧缺血性脑病精准诊疗的新钥匙

一、引言

1.1研究背景与意义

新生儿缺氧缺血性脑病（Hypoxic-IschemicEncephalopathy，HIE）是围产期新生儿因缺氧缺血导致的脑损伤疾病，严重威胁新生儿的生命健康，是导致新生儿死亡和儿童神经系统伤残的重要原因之一。据统计，在发达国家，HIE的发生率约为3-5例/1000例活产，其中严重神经系统损伤的比例约为0.5-1例/1000例活产，约60%的HIE患者死亡，25%存活者有显著的残疾。在我国，新生儿缺氧缺血性脑病的发生率为3‰-6‰，其中15%-

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