04M00134《半导体器件可靠性及失效分析》课程简介-202501版.doc
《半导体器件可靠性及失效分析》课程简介
课程英文名
ReliabilityofSemiconductorDevicesandFailureAnalysis
课程代码
04M0136
学分
2
总学时
32
理论学时
32
实验学时
0
上机学时
0
实践学时/周数
0
先修课程
概率论与数理统计A，高等数学、大学物理，半导体技术基础
适用专业
电子科学与技术、微电子科学与工程
内容简介
（中文）
《半导体器件可靠性及失效分析》课程针对各类精密半导体器件制造产品的高质量发展需求，包括光电子器件、微电子器件以及智能传感器件产品，介绍器件在可靠性设计以及失效分析方面的共性技术知识以及部分特有技术。主要内容涉及可靠性的数学基础，半导体器件的失效物理，失效分析，器件的可靠性设计，可靠性试验，光电子器件、微电子器件以及智能传感器件中的一些特有失效案例等。通过该课程的学习，能够对可靠性的概念、各类精密半导体器件的可靠性设计、检测及失效分析等在光电子、传感、集成电路以及芯片产业中所发挥的重要作用产生清晰的认识，并掌握基本的可靠性设计方法、器件失效分析方法以及可靠性试验及评估方法。课程对于后续开展光电子器件、微电子器件、智能传感器件的产品制造以及相关领域的科学研究均起到支撑作用。
内容简介
（英文）
ThecourseReliabilityandFailureAnalysisofSemiconductorDevicescaterstothehigh-qualitydevelopmentneedsofvariousprecisionsemiconductordevicemanufacturingproducts,includingoptoelectronicdevices,microelectronicdevices,andintelligentsensorproducts.Itintroducesthecommontechnicalknowledgeandsomespecifictechnologiesintermsofreliabilitydesignandfailureanalysisofthesedevices.Themaincontentcoversthemathematicalfoundationofreliability,thefailurephysicsofsemiconductordevices,failureanalysis,thereliabilitydesignofdevices,reliabilitytesting,andsomespecificfailurecasesinoptoelectronicdevices,microelectronicdevices,andintelligentsensordevices.Throughthestudyofthiscourse,studentscanclearlyunderstandtheconceptofreliability,theimportanceofreliabilitydesign,detection,andfailureanalysisofvariousprecisionsemiconductordevicesintheoptoelectronics,sensing,integratedcircuit,andchipindustries.Theywillalsomasterbasicreliabilitydesignmethods,devicefailureanalysismethods,aswellasreliabilitytestingandevaluationmethods.Thiscourseprovidessupportforsubsequentproductmanufacturingofoptoelectronicdevices,microelectronicdevices,andintelligentsensordevices,aswellasscientificresearchinrelatedfields.
执笔人
孟彦龙
审定人
康娟
制定时间
2025年01月