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LLZO固态电解质片界面阻抗调控与烧结工艺参数匹配性分析论文.docx

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LLZO固态电解质片界面阻抗调控与烧结工艺参数匹配性分析论文

摘要:本文针对LLZO固态电解质片的界面阻抗调控及其与烧结工艺参数的匹配性进行了深入研究,分析了界面阻抗对固态电解质性能的影响,探讨了烧结工艺参数对界面阻抗的调控作用,旨在为优化LLZO固态电解质片的生产工艺提供理论依据。

关键词:LLZO固态电解质;界面阻抗;烧结工艺;参数匹配

一、引言

(一)LLZO固态电解质片界面阻抗调控的重要性

1.提高固态电解质片性能:界面阻抗是固态电解质片性能的关键参数之一。降低界面阻抗可以有效提高离子传输速率,从而提升固态电解质片的电化学性能。本文通过对LLZO固态电解质片界面阻抗的调控,旨在为提高

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