一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法!.PDF

第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报 ?$ ? ##C ? ， ， ， X.* ;?$ W. ;? :/F ##C （ ） ###=%C#P##CP?$ #? P%%?=#? 9DR9 STUAVD9 AVWVD9 ##C D34 ; SF1 ; A.+ ; 一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器 插入损耗因素的方法! ! 廖栽宜 赵玲娟 张云霄 边 静 潘教青 王 圩 （中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体材料重点实验室，北京 ###$% ） （ 年 月 日收到； 年 月 日收到修改稿） ##$ ’ ( ##$ $ 提出一种新颖的方法用于测量电吸收调制器（ ， ）各种因素造成的插入损耗 此方 )*)+,-./01.-2,3.4 5.67*/,.- 89: ; 法仅需要测量波长相关的光电流（ ）和光透过功率（ ）的数据，通过最小二乘法拟合出结果 理论分析表明此 !2 =! =! ; 方法较精确，实验表明测试结果与理论拟合结果自洽得很好; 关键词：电吸收调制器，插入损耗，吸收曲线，光生电流 ： ， ， !## ?@ $#A $#B ［］ ? 的方法 ，采用曲线拟合，拟合方程中存在 个未知 ? 数过于复杂，且曲线对测试数据并不敏感 此外，以 H 引 言 ; 上方法均利用 != # 曲线，涉及到载流子收集效率 半导体电吸收调制器（ ）是目前数字光通信 （）问题，使得推导不精确 本文采用了在固定偏 89: # # ; 和模拟光通信中的关键器件 在实际应用中，插入损 压下 ! = 和= 关系，避开了载流子收集效率问 ; 2 ! ! 耗、消光比、调制效率是主要的性能参数；通过光通 题，从而精确地获得各部分损耗；然后再通过 != # 和 过率