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用于痕量检测的基片、基片的制备方法及其应用.pdf

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114544585 A (43)申请公布日 2022.05.27 (21)申请号 202210103928.7 (22)申请日 2022.01.27 (71)申请人 清华大学
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