一种透射电镜的检验方法.pdf

一种透射电镜样品载网.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114460107 A (43)申请公布日 2022.05.10 (21)申请号 202011142254.9 (22)申请日 2020.10.22 (71)申请人中国科学院微电子研究所地址 10

2023-05-05 约7.64千字 8页立即下载

透射电镜-透射电镜.ppt 当有许多取向不同的小晶粒，其{hkl}晶面簇的晶面组符合衍射条件时，则形成以入射束为轴，2θ为半角的衍射束构成的圆锥面，它与荧光屏或照相底板的交线，就是半径为R= Lλ／d的圆环。因此，多晶衍射谱的环形花样实际上是许多取向不同的小单晶的衍射的叠加。d值不同的｛hkl｝晶面簇，将产生不同的圆环、从而形成由不同半径同心圆环构成的多晶电子衍射谱。产生这种环形花样的原因是：多晶试样是许多取向不同的细小晶粒的集合体，在入射电子束照射下，对每一颗小晶体来说，当其面间距为d的{hkl}晶面簇的晶面组符合衍射条件时，将产生衍射束，并在荧光屏或照相底板上得到相应的衍射斑点。 3.4

2018-09-17 约5.42千字 52页立即下载

透射电镜讲义.ppt 堆垛层错的衬度层错是晶体中最简单的平面型缺陷，是晶体内局部区域原子面的堆垛顺序发生了差错，即层错面两侧的晶体发生了相对位移R。层错总是发生在密排的晶体学平面上，典型的如面心立方晶体的{111}平面上，层错面两侧分别是位向相同的两块理想晶体。对于面心立方晶体的{111}层错，R可以是±1/3〈111〉或者±1/6〈112〉，它们分别代表着层错生成的两种机制。第63页,共90页，2024年2月25日，星期天堆垛层错的衬度在衍衬成像条件下，层错区域内的晶体柱被层错面分割成两部分，下部晶体相对于上部晶体存在整体的位移R。下部晶体的附加位相角可以通过α=2πg·R计算，如果把R±1/3〈111〉或者±1

2024-03-31 约1.69万字 90页立即下载

实验四 透射电镜.doc 实验四 透射电镜（TEM）一、目的要求（1）了解透射电子显微镜的基本构造、原理与方法（2）了解透射电子显微镜图谱的基本特征（3）了解透射电子显微镜中的各种实验技术（4）掌握透射电子显微镜样品的制样方法（5）掌握对样品的电子衍射图样进行物相分析。二、实验原理 1.透射电子显微镜的结构与成像原理透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可

2016-03-30 约2.15千字 6页立即下载

透射电镜 蒋坤.ppt 表6-2光学显微镜与透射电镜的比较高压系统真空系统控制系统观察和记录系统 JEM-1400是一款拥有优秀成像和分析能力一体的高性能,高对比度,操作简便的 120KV透射电子显微镜.加速电压从40KV到120KV可调,适合生物,聚合物和材料科学应用。配备新的JENIE?软件,JEM-1400提供完整的一套用户指南,不仅可以帮助透射电子显微镜的初学者尽快熟悉电镜,还可使有经验的用户了解高级性能. Windows?操作界面以最新的Windows?为基础,可以通过TCP/IP联接和网络浏览器实现远程操作和通讯。 JEM-1400还支持可选件:STEM数字成像/扫描电路,可在标准的操作界面上

2016-04-20 约7.51千字 78页立即下载

10.透射电镜.pptx ;透射电子显微像;质厚衬度;质厚衬度;质厚衬度;质厚衬度;质厚衬度;衍射衬度;衍射衬度;衍射衬度;衍射衬度;（a)明场像;衍衬像;衍衬像;位错;界面和孪晶;第二相粒子;相位衬度;相位衬度;选区电子衍射分析;电子衍射的基本概念; 其中fj是晶胞中位于(xj,yj,zj)的第j个原子的原子散射因数;基本公式;基本公式;基本公式;TEM的电子衍射方法;TEM通常采用的是选区电子衍射。即用位于物镜平面的选区光阑选择特定像区的各级衍射束成谱的电子衍射。通过改变选区光阑孔大小来改变选区范围，所得到的衍射谱与所选试样像区相对应。 TEM除常用的选区电子衍射外，还有为测定晶体结构参数的衍射方法，如：微束衍

2017-05-20 约小于1千字 41页立即下载

一种透射电镜高分辨原位温差加压芯片.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214150510 U (45)授权公告日 2021.09.07 (21)申请号 202022337004.2 (22)申请日 2020.10.20 (73)专利权人厦门大学地址 3

2023-04-03 约8.59千字 8页立即下载

一种透射电镜力电热原位样品杆.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112834539 A (43)申请公布日 2021.05.25 (21)申请号 202011636775.X (22)申请日 2020.12.31 (71)申请人厦门超新芯科技有限公司

2023-06-02 约8.54千字 11页立即下载

一种原生动物包囊透射电镜样品的制备方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113405869 A (43)申请公布日 2021.09.17 (21)申请号 202110644801.1 (22)申请日 2021.06.09 (71)申请人宁波大学地址浙江

2023-06-19 约1.61万字 16页立即下载

材料分析方法9-透射电镜试样的制备.ppt 材料现代分析方法TEM试样的制备河北工业大学　　材料学院孙继兵 E-mail: hbgdsjb@126.com Tel: 022TEM试样的制备电子束对薄膜样品的穿透能力和加速电压有关。当电子束的加速电压为200kV时，就可以穿透厚度为500nm的铁膜，如果加速电压增至l000kV，则可以穿透厚度大致为1500nm的铁膜。从图像分析的角度来看，样品的厚度较大时，往往会使膜内不同深度层上的结构细节彼此重叠而互相干扰，得到的图像过于复杂，以至于难以进行分析。如果样品太薄则表面效应将起着十分重要的作用，以至于造成薄膜样品中相变和塑性变形的进行方式有别于大块样品。因此，为了适应不同研究目

2016-12-15 约4.51千字 29页立即下载

碳点透射电镜表征方法的探究与实践.pdf 第４２卷第３期电子显微学报Ｖｏｌ４２，Ｎｏ３２０２３年６月ＪｏｕｒｎａｌｏｆＣｈｉｎｅｓｅＥｌｅｃｔｒｏｎＭｉｃｒｏｓｃｏｐｙＳｏｃｉｅｔｙ２０２３⁃０６－－－文章编号：１０００６２８１（２０２３）０３０３３００８碳点透射电镜表征方法的探究与实践１１２３１梁国弘，邹少兰，石璘，丁哲远，方卉，１１１∗ 翟勇，刘士新，靳凤民（１．天津大学化工学院，大型仪器测试平台，天津３００３５０；２．天津大学地球系统科学学院，天津３０００７２；３．天津大学化工学院，天津３００３５０）摘要碳点（ＣＤｓ）由于其独特的物理、化学特性，近年来受到科技工作者的广泛关注。透射电镜（ＴＥＭ）作为材料表征

2024-10-29 约2.59万字 8页立即下载

材料现代研究方法05透射电镜.ppt 第七章透射电子显微镜分辨率：引言透射电子显微镜（Transmission electron microscopy，缩写TEM ）是利用电子的波动性来观察固体材料内部的各种缺陷和直接观察原子结构的仪器。尽管复杂得多，它在原理上基本模拟了光学显微镜的光路设计，简单化的可将其看成放大倍率高得多的成像仪器。一般光学显微镜放大倍数在数十倍到数百倍，特殊可到数千倍。而透射电镜的放大倍数在数千倍至一百万倍之间，有些甚至可达数百万倍或千万倍。目前，普遍使用的透射电镜，分辨本领为2~3 埃，电压为100～500kV，放大倍数50~1200000倍。由于材料研究强调综合分析，电镜逐

2018-12-10 约6.88千字 53页立即下载

芯片式原位透射电镜的样品转移方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113340926 B (45)授权公告日 2022.05.20 (21)申请号 202010137518.5 (56)对比文件 (22)申请日 2020.03.03

2023-06-16 约1.32万字 11页立即下载

应用于原位透射电镜的降低芯片漏电流的方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113358676 B (45)授权公告日 2022.06.07 (21)申请号 202010137511.3 G01N 23/20008 (2018.01) (22)申请日 2020

2023-06-18 约1.46万字 14页立即下载

透射电镜tem讲稿精品.ppt * *

2017-08-22 约小于1千字 57页立即下载