文档详情

一种折射率可调的AlN薄膜的制备设备及方法.pdf

发布：2023-06-18约1.06万字共10页下载文档

文本预览下载声明

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113337795 A (43)申请公布日 2021.09.03 (21)申请号 202110702031.1 (22)申请日 2021.06.24 (71)申请人浙江艾微普科技有限公司

显示全部

相似文档

一种AlN薄膜的制备方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112795871 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 202011558388.9 H01L 33/00 (2010.01) (22)申请日 2
2023-06-02 约9.91千字 8页立即下载
一种单一N极性AlN薄膜制备方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116043188 A (43)申请公布日 2023.05.02 (21)申请号 202211414050.5 C23C 14/06 (2006.01)
2023-05-12 约1.79万字 14页立即下载
高折射率共聚酯的制备方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116333284 A (43)申请公布日 2023.06.27 (21)申请号 202310129054.7 (22)申请日 2023.02.17 (71)申请人万凯新材料股份有限公司地址 3
2023-06-24 约1.05万字 10页立即下载
一种高折射率氧化钛透明涂层的制备方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114561113 A (43)申请公布日 2022.05.31 (21)申请号 202210228173.3 (22)申请日 2022.03.08 (71)申请人南京安淮创新药物研究院有限公司地址
2023-05-10 约1.02万字 10页立即下载
一种测量折射率的新方法.doc 光电工程 V o l1 24, N o 14 第 24 卷第 4 期 1997 年 8 月 O p to 2E lec t ro n ic E n g in ee r in g A u gu s t, 1997 一种测量折射率的新方法胡玉禧张红强周绍祥 (中国科技大学精密机械与仪器系, 合肥, 230026) 摘要提出一种新的折射率测量方法。利用倾斜平行平板会引起出射光束位置平移的测量原理。同线阵 CCD 探测产生了位移的光束, 通过计算程序实时算出样品折射率。为了证实这种方法的可行性, 本文作者建立了一个由 H e- N e 激光器、透镜组
2017-12-27 约6.67千字 5页立即下载
水热法制备高折射率的HfO2光学薄膜.pdf 第35卷第12期同济大学学报(自然科学版) Vd．35No．12 2007年12月 JOURNALOFTONGJiUNWERSITY(NAIURALSCIENCE) Dec．2007 水热法制备高折射率的Hf02光学薄膜王生钊，沈军，罗爱云，刘春泽 (同济大学波耳固体物理研究所，上海200092) 摘要：采用水热合成技术制备了Uf02胶体，用旋涂法镀
2015-08-14 约1.53万字 5页立即下载
一种任意衬底上单晶AlN薄膜体声波谐振器及其制备方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112564657 A (43)申请公布日 2021.03.26 (21)申请号 202011573707.3 (22)申请日 2020.12.24 (71)申请人华南理工大学地址
2023-05-31 约8.81千字 9页立即下载
一种高折射率、低色散光学玻璃及其制备方法和应用.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112960903 A (43)申请公布日 2021.06.15 (21)申请号 202110218396.7 (22)申请日 2021.02.26 (71)申请人南通市国光光学玻璃有限
2023-06-07 约2.21万字 13页立即下载
使用二种方法测量透明薄膜的折射率123.doc 使用两种方法计算透明薄膜的折射率 徐浩（巢湖学院物理与电子科学系安徽巢湖 238000）摘要：采用简易的椭圆偏振仪，利用传统的消光法测量椭圆偏参数，通过利用椭圆偏振光和线偏振光的变化以及偏振光的反射、折射，由菲涅尔公式推导，进而测得薄膜的厚度和折射率。做出具体的计算机作图程序便于查找计算，并分析现有方法的缺陷，改进测量薄膜厚度的方法。对于透明导电薄膜，利用分光光度计测量了其透射光谱，通过计算拟合透明导电薄膜的折射率，其在可见一近红外线区域近似为1.50，并对各种金属掺杂对薄膜折射率的影响进行了讨论，然后又根据实验数据对各种金属掺杂对薄膜的光学带隙的影响也进行了讨论。关键词：椭圆偏振
2016-03-29 约字 12页立即下载
《《用薄膜测厚仪测量薄膜厚度及折射率》》.doc 材料物理实验报告 [实验原理3311”，即“Int. Time”值为3，“Sample”值为3， “Boxcar”值为1，“Data Ave.”值为1。 3 测厚仪出厂时，焦距已调好，近似认为出射为平行光，省略调焦步骤。在平台上放上参考硅片，调节水平旋钮1，2，使软件界面“Power”值最大。即可认为样品表面和光束垂直。 4 调节光阑大小，试软件界面上左侧的坐标达到“4000”。 5 按下“Store Reference”来保存参考板曲线。 6 拿开硅片，按下“Store Dark”来保存暗噪声。 7 放上待测样品，调节水平旋钮1，2使“Power”最大。 8 点击“
2016-09-14 约1.11千字 4页立即下载
渐变折射率薄膜设计、制备与表征相关问题的研究的开题报告.docx 渐变折射率薄膜设计、制备与表征相关问题的研究的开题报告一、研究背景与意义渐变折射率薄膜（Gradient Refractive Index Film, GRIN Film）是一种光学功能材料，其折射率沿着膜厚方向呈连续性变化，可以实现对光的聚焦、分散和反射等光学调控。在光学成像、光通信、光学传感、激光聚焦等领域具有重要的应用。因此，对渐变折射率薄膜的研究具有重要的理论与实践意义。在制备渐变折射率薄膜的过程中，常常需要采用多种材料、多种原理和多种方法进行设计和制备。因此，对渐变折射率薄膜的制备方法进行研究和改进具有重要的意义。二、研究内容本研究将针对渐变折射率薄膜的设计、制备和表征等方
2023-12-01 约1.06千字 2页立即下载
一种折射率变化传感的装置及测量方法.pdf (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113390441 A (43)申请公布日 2021.09.14 (21)申请号 202110609462.3 (22)申请日 2021.06.01 (71)申请人重庆邮电大学地址
2023-06-20 约1.45万字 9页立即下载
一种基于折射率梯度的网格自适应方法.pdf (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112989658 B (45)授权公告日 2022.08.12 (21)申请号 202110254161.3 G06F 30/28 (2020.01)
2023-06-07 约8.33千字 9页立即下载
[整理]用白光干涉测薄膜折射率.doc 用白光干涉测薄膜折射率 鲁耀 0808406003 物理学（师范）摘要本实验主要采用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法，同时用螺旋测微计测定薄膜厚度，从而利用公式确定薄膜折射率, 该方法的优点是测量精度高, 原理简单。关键词迈克尔逊干涉仪 薄膜折射率 白光干涉引言 薄膜折射率的测量是薄膜科学的重要分支之一。本实验采用白光干涉法对该量进行测量。该方法的理
2018-10-20 约4.36千字 6页立即下载
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率.doc.doc 椭偏仪测量薄膜厚度和折射率【引言】椭圆偏振测量（椭偏术）是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法，其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。椭圆偏振测量的应用范围很广，如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃(或镀膜)、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等，也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。结合计算机后，具有可手动改变入射角度、实时测量、快速数据获取等优点。【实验目的】掌握椭偏仪的原理与操作方法；学会利用椭偏仪进行相关物理量的测量。【实验仪器】椭偏仪、待测样品、电脑WJZ－II椭偏仪结构如图1所示：1
2018-07-10 约8.06千字 15页立即下载