研究生材料科学研究与分析方法-电镜部分复习重点2014.doc

电镜部分重点复习内容： 根据衍射分辨率的公式，并给出各参数物理意义？分别说明提高光学显微镜和透射电子显微镜的方法和途径？ 答： 衍射分辨率的公式为：，其中λ为入射光的波长；n 为样品与物镜之间介质的折射率；α为孔径半角。 对于具体某一光学显微镜来说：其不能改变，故提高其分辨率可以增大和的值。 对于具体某一透射电子显微镜来说：其值不能改变，故提高其分辨率可以减小以及增大值，不过值的改变量很小。 解释景深和焦长，并说明电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响? 答： 景深定义：当像平面固定时(像距不变),能维持物像清晰的范围内, 允许物平面(样品)沿透镜主轴移动的最大距离Df。 焦长定义：固定样品的条件下（物距不变），象平面沿透镜主轴移动时仍能保持物像清晰的距离范围，用DL表示。 景深，因此影响景深的因素是电磁透镜的分辨率和孔径半角。焦长，因???影响焦长的因素是电磁透镜的分辨率，放大倍数以及孔径半角。 解释电子显微镜的像差有哪些，如何减少像差？ 包括球差、像散以及色差。 答： 减小球差可以通过减小球差系数和电磁透镜的孔径半角。 消除像散的方法是可以安装消像散器。 减小色差的方法是可以通过稳定加速电压和透射电流来减弱。 AFM的工作模式及各自优缺点？ 答： 三种操作模式 接触模式； 针尖与样品表面距离小（＜1nm），利用原子间的极微弱的排斥力（10e-8～10e-6N ); 可获得高解析度图像; 样品变形，针尖受损; 不适合表面软的材料. 非接触模式; 针尖距样品表面5nm—20nm 不损伤样品表面和针尖，可测试表面柔软样品; 分辨率低; 误判的现象 轻敲模式. 探针在Z轴维持固定频率振动，当振动到谷底时与样品表面接触; 分辨率几乎与接触模式相同; 对样品和针尖破坏小。 原子力显微镜、透射电子显微镜和扫描电子显微镜的分辨率各是多少？加速电压为100KV和200KV时电子束的波长各是多少？ 答： 种类原子力显微镜透射电子显微镜扫描电子显微镜分辨率原子级(0.1nm)点分辨(0.3~0.5nm) 晶格分辨(0.1~0.2nm) 6~10nm（FESEM1nm）电压 波长100KV0.00370nm200KV0.00251nm德布罗意公式： 简述原子力显微镜的工作原理、优缺点以及在材料研究中的应用？ 答： 工作原理：将一个对微弱力极敏感的微HYPERLINK /view/552421.htm悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。 优点：AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。 缺点：成像范围太小,速度慢，受探头的影响太大 应用：材料三维形貌的观察，粉体材料的分析，纳米材料的分析（纳米粒子的粒径、形貌、分散和团聚状况），成分分析。 简要说明高能电子束与样品相互作用产生的主要信号、信号产生的机理及其可反映的样品结构信息是什么？ 答： 样品在电子束的轰击下，会产生如图所示的各种信号 背散射电子 背散射电子是入射电子进入试样后，被表层固体样品中的原子核或核外电子反弹回来的电子，它包括弹射散射和非弹性散射电子。有的电子经一次散射就逸出表面，有点电子经过多次散射才反射出来 。 特征： 1)弹性背散射电子远比非弹性背散射电子所占的份额多 ； 2)能量高，例如弹性背散射，能量达数千至数万ev ； 3)背散射电子束来自样品表面几百nm深度范围 ； 4)其产额随原子序数增大而增多； 5)用作形貌分析、成分分析（原子序数衬度）以及结构分析（通道花样）。 b.二次电子 二次电子是入射电子在单电子激发过程被入射电子轰击出来的试样电子，二次电子的能量很低，一般小于50eV,它只能从很薄的试样表层内激发出来，表层深度小于10nm，更深的二次电子由于能量小而无力逸出表面。其中90%来自于外层价电子。 特 征： 1)二次电子能量较低。一般不超过50 ev，大部分几ev； 2)来自表层5—10nm深度范围； 3）图像无阴影效应； 　 4)对样品表面化状态十分敏感，因此能有效地反映样品表面的形貌； 5）SE的产额δ≒K/cosθ,K为常数， θ 为入射电子束与试样表面法线之间的夹角