ASIC第七章-测试(2).pdf

ASIC Test Fault Models Fault Simulation Automatic Test-Pattern Generation Design for Test §7.3 Automatic Test-Pattern Generation 组合电路的测试生成 被广泛应用的PODEM算法 时序电路测试生成 迭代展开法 ASIC Test 1. D-Calculus D-Calculus是一种简洁的缩写标志，用 于跟踪电路中的故障。 该标志法于1966年由Roth 提出。与此 同时，他还提出了一种有名的ATPG算 法——D-algorithm。 D-Calculus 在这里，D=1/0表示某 节点的正常逻辑值为1， 同样可定义 D 0/1 ，表示 有故障时的逻辑值为0 某节点的正常逻辑值为0 ， 有故障时的逻辑值为1。 对与门和与非门，其 “使能”值为1； 对或门和或非门，其 “使能”值为0。 用D-Calculus标记的一些简单逻辑单 元的逻辑行为 D D D D D D NOT(D) NOT(D) D D D D 逻辑门的“使能”值 （enabling value） ： 当我们希望把故障标记D 由单元的输入传送到单元 的输出时，应将该门的另一个输入置为“使能”值。 与门和与非门 ： “控制”值为0 或门和或非门 ： “控制” 值为1 用D-Calculus标记的一些简单逻辑单 元的逻辑行为 D D D D D D NOT(D) NOT(D) D D D D 逻辑门的“控制值” （controlling value）： 被置为控制值时，单元的输出 当一个单元的输入 节点将被固定到某个电平上。 ASIC Test 第二步，通过反推得 知输入A 的取值应为“1” 。 2. A Basic ATPG Algorithm 为了能够测出这个故障，要做的第 非门的输出端有一个 一个工作是：“激活” 故障。也即所 SA1故障，