一种应用于IPEM系统闪烁体薄膜厚度及均匀性的测量方法.pdf
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(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114877816 A
(43)申请公布日 2022.08.09
(21)申请号 202210506976.0
(22)申请日 2022.05.10
(71)申请人 湘潭大学
地址 411105 湖
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