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微机原理及应用实验指导书.doc

发布:2017-02-25约3.06千字共10页下载文档
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实验一 清零程序 一、实验目的 (1)掌握汇编语言设计和调试方法; (2)熟悉MCS-51 单片机实验系统。 二、实验内容 把c000H~c0FFH的内容清零。 三、程序框图 清零 四、实验步骤 用连续或单步方式运行程序,检查C000~C0FF中执行程序前后的内容变化。 五、思考 (1)对于清零程序,假使把C000H~C0FFH中的内容改成FF,如何修改本程序? (2)如何用断点方式调试程序? 实验二 拆字程序 一、实验目的 (1)掌握汇编语言设计和调试方法; (2)熟悉MCS-51 单片机实验系统。 二、实验内容 把C000H的内容拆开,高位送C001H低位,低位送C002H低位,C001H、C002H 高位清零,一般本程序用于把数据送显示缓冲区时用。 三、程序框图 拆字 四、实验步骤 程序一:用连续或单步方式运行程序,检查C000~C002H中内容变化情况。 程序二:单步或用断点方式运行程序,检查C002H内容变化情况。 五、思考 编写程序:把C000H、C001H的低位分别送入C002H高低位,一般本程序用于把显示缓冲区的数据取出拼装成一个字节。 实验三 数据区传送程序(综合性) 一、实验目的 (1)掌握RAM中的数据操作; (2)熟悉8031(8051)指令系统,掌握程序设计方法。 二、实验内容 把R2、R3源RAM区首址内的R6、R7字节数据传送到R4、R5目的RAM区。 三、程序框图 数据区传送 四、实验步骤 在R2、R3中输入源首址(例如c000H),R4、R5中输入目的地址(例如D000H),R6、R7中输入字节数(例如0FFFH),运行程序,检查C000~CFFFH中内容是否和D000~DFFFH中内容完全一致。 实验四 P1口亮灯实验 一、实验目的 (1)学习P1口的使用方法; (2)学习延时子程序的编写。 二、实验预备知识 本实验中延时子程序采用指令循环来实现,机器周期(12/6MHz)*指令所需机器周期数*循环次数,在系统时间允许的情况下可以采用此方法。 对于延时程序 DELAY: MOV R6,#00H   DELAY1:MOV R7,#80H DJNZ R7,﹩ DJNZ R6,DELAY1 MOV、DJNZ指令均需用两个机器周期,而一个机器周期时间长度为12/6.0MHZ,所以该段指令执行时间为:((80+1)×256+1)×2×(12÷6000000)=132.1ms。 三、实验内容 P1口作为输出口,接八只发光二极管,编写程序,使发光二极管循环点亮。 四、程序框图 五、实验电路 六、实验步骤 A2区的P10—P17用8芯排线连接到D1区的LED1—LED8,运行程序后,观察发光二极管闪亮移位情况。 七、思考 (1)改变延时常数,使发光二极管闪亮时间改变; (2)修改程序,使发光二极管闪亮移位方向改变。 实验五 定时器实验 一、实验目的 通过学习单片机定时器的定时操作,掌握单片机定时器初始化编程方法和基本应用。 二、实验内容 利用单片机内部定时器产出精确的一秒定时,用其中的单片机的P1 口作为控制端口,使D1 区的LED 每隔一秒钟轮流亮。(晶振取6MHz). 三、实验原理图 四、实验步骤 用排线连接A2区P1口和D1区LED1—LED8,编写定时控制程序,观察LED发光情况 五、思考题 1、如何改变定时时间。 2、如何改变发光二极管闪亮移位方向。 实验六 简单IO扩展实验 一、实验目的 (1)掌握P3口、P1口简单使用; (2)学习延时程序的编写和使用。 二、实验内容 1.P3口做输入口,外接一脉冲,每输入一个脉冲,P1口按十六进制加一。 2.P1口做输出口,编写程序,使P1口接的8 个发光二极管D1—D8按16进制加一方式点亮发光二极管。 三、实验说明 P3口是准双向口,它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同,由准双向口结构可知:当P3口作为输入口时,必须先对它置高电平,使内部MOS管截止,因内部上拉电阻是20KΩ—40KΩ,故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高,且原来是低电平,则MOS管导通,读入的数据是不正确的。 四、实验程序框图 五、实验线路图     六、实验步骤 ①A2区INT1用插针连至D1区SW1孔,A1区P10—P17用排线连至D1区LED1—LE
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