半导体物理学(刘恩科)课后习题解第五章答案.pdf
文本预览下载声明
半导体物理学(刘恩科)课后习题解第五章
13 -3,
1. 在一个n 型半导体样品中,过剩空穴浓度为10 cm 空穴的寿命为100us。
计算空穴的复合率。
∆p 1013 / cm−3 , 100 s
已知: τ µ
求:U ?
p
解:根据τ ∆
U
∆p 1013 17 3
得:U −6 10 / cm s
100 10
×
τ
2. 用强光照射 n 型样品,假定光被均匀地吸收,产生过剩载流子,产生率为,
空穴寿命为τ。
(1)写出光照下过剩载流子所满足的方程;
(2)求出光照下达到稳定状态时的过载流子浓度。
解:均匀吸收,无浓度梯度,无飘移。
∆ ∆
d p p
∴ − +g L
dt τ
t
−
方程的通解: ( ) τ
∆p t Ae +g τ
L
∆
d p
(2)达到稳定状态时, 0
dt
p
−∆
∴ +g L 0.
τ
∴∆p gτ
3. 有一块n 型硅样品,寿命是1us,无光照时电阻率是10Ω•cm。今用光照射该
22 -3 s-1
样品,光被半导体均匀的吸收,电子-空穴对的产生率是 10 cm • ,试计算光
照下样品的电阻率,并求电导中少数在流子的贡献占多大比例?
解:
∆p
光照达到稳定态后. − +g L 0
τ
∆ ∆ 22 × −6 16 −3
p n gτ 10 10 10 cm
1
: 10Ωcm
光照前 ρ0
n qµn +p qµp
0 0
+ + +∆ +∆
: np pq n q p q nq pq
光照后 σ µn µp 0 µn 0 µp µn
显示全部