BRUKER原子力显微镜探针简介.pdf

布鲁克原子力显微镜探针 布鲁克AXS，是布鲁克(Bruker)股份公司（NASDAQ：BRKR）中的运营公司，拥有全球性的市场，是从事扫描 探针显微镜（Scanning probe microscopes，SPMs）和原子力显微镜（atomic force microscopes，AFMs）的 技术领导者。BrukerAXS 专业致力于分析仪器的研发与生产，产品应用于生命科学、材料研究、新型软件开发及 应用、结构及表面解析等领域。不断创新的产品为各行各业的用户带来技术领先和技术进步，用户遍及重工业、 化学、药物、半导体、太阳能、生命科学、纳米技术及学术研究等领域，并致力于促进其科技进步及加速工业发 展。 布鲁克公司是全球唯一一家既能生产AFM/SPM设备又能生产探针的厂商。作为全球最大的探针用户之一，我 们深刻理解每个单独的组件对于一套高性能AFM系统的价值。先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天 AFM 独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在最广泛的应用领域中提供最完整的 解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心特征： • 100间无尘室 • 先进的设计、制造工序及制造工具 • 内部的探针设计团队与AFM科学家及工程师通力合作，配合紧密 • 训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针 • 全面的质量管理体系，确保探针性能行业领先 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制， 全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的 结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜性能及技术领导者 布鲁克的原子力显微镜(AFMs) 广泛应用于生命科学、材料科学、半导体、电化学等领域的纳米技术研究开发。 布鲁克目前已开发了拥有专利的各种产品套件，以实际应用为导向，能提供无以伦比的精确度及分辨率，各 种价位可供选择。经过几十年的不断创新和设计优化，布鲁克的AFM系统能为用户提供更加简单易掌握的技术。 布鲁克公司的AFMs，探针，及配件具有PeakForceQNM®、ScanAsyst® 和PeakForce®Tapping等专利 技术，超过20种成像模式，以其卓越的性能广泛应用于科研和工业界各领域，能有效地增加产能，帮助用户 更加方便快捷地获取量化的数据结果。布鲁克公司以其独特的生产装备能为用户的特殊应用量身定做，提供 完整的、高性能的解决方案。无以伦比的本地化应用及技术专员会在使用的过程中一直协助用户，从产品、 探针及配件选择，到应用支持和下一代技术更新。 布鲁克公司发展简史： 1992 — 轻敲模式及AFM液态中成像 1994 — 闭环SPM — 第一台用于生命科学的AFM(BioScope™) 1995 — 相位成像模式及抬高模式 1999 — 电学应用模块 2000 — 10 加快 倍成像 2001 — 高温聚合物成像 2002 — 用于力谱的原子力显微镜(PicoForce ) 2003 — 扭转共振模式 (TR-Mode™) 2006 — 单谐波成像 2008 — HarmoniX®实时材料属性的映射 2009 — 峰值力轻敲模式 — 定量纳米力学性能测试模式 — 智能成像模式 2010 — 峰值力隧道电流纳米级量化表征 2011 — 全球速度最快的高分辨率原子力显微镜 (Dimension FastScan™) — 高速，原子力显微镜自动优化成像模式 (ScanAsyst-HR) — IRIS™AFM-拉曼一体化 硅探针 力调制模式 力调制中的对比取决于悬臂的弹性系数，必须为两种对比材料的柔软度的互补。弹性系数应该接近其中一种 材料或介于两种材料的柔软度之间。这种情况下，针尖会缩进到其中一种材料中，从而提供很好的力调制成 像对比。这些用于力调制的悬臂具有适中的弹性系数，能为力调制成像提供一个很好的始点。 型号 套装 规格参数 包 装 针尖曲率