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一种基于半导体器件的电场强度测量方法.pdf

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113406404 A (43)申请公布日 2021.09.17 (21)申请号 202110596719.6 (22)申请日 2021.05.31 (71)申请人 清华大学深圳国际研究生院
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