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检定分光光度计作业指导书 计量性能要求 为便于描述计量性能要求，将仪器的工作波长划分为三段，分别是A段（190nm—340nm）、B段（340 nm--900 nm）、C段（900 nm-- 2600nm）。按照计量性能的高低将仪器划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ共4个级别。 1.1波长最大允许误差 仪器波长最大允许误差应符合表1的要求。 表1波长最大允许误差 级 别 A 段 B 段 C 段 Ⅰ ±0.3 ±0.5 ±1.0 Ⅱ ±0.5 ±1.0 ±2.0 Ⅲ ±1.0 ±4.0 ±4.0 Ⅳ ±2.0 ±6.0 ±6.0 1.2波长重复性 仪器波长重复性应满足表2要求。 表2波长重复性 nm 级 别 A 段 B 段 C 段 Ⅰ ≤0.1 ≤0.2 ≤0.5 Ⅱ ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0 Ⅲ ≤0.5 ≤2.0 ≤2.0 Ⅳ ≤1.0 ≤3.0 ≤3.0 1.3噪声与漂移 仪器噪声与漂移应符合表3的要求。 表3仪器噪声与漂移的要求 % 级 别 透射比为0%噪声 透射比为100%噪声 漂 移 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ ≤0.05 ≤0.1 ≤0.2 ≤0.5 ≤0.1 ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0 ≤0.1 ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0 注：非扫描仪器不作漂移指标。 1.4最小光谱带宽 仪器的最小光谱带宽误差应不超过标称光谱带宽的±20%。 1.5透射比最大允许误差 仪器透射比最大允许误差应满足表4要求。 表4透射比最大允许误差 % 级 别 A 段 B 段 Ⅰ ±0.3 ±0.3 Ⅱ ±0.5 ±0.5 Ⅲ ±1.0 ±1.0 Ⅳ ±2.0 ±2.0 1.6透射比重复性 仪器透射比重复性应满足表5要求。 表5透射比重复性 % 级 别 A 段 B 段 Ⅰ ≤0.1 ≤0.1 Ⅱ ≤0.2 ≤0.2 Ⅲ ≤0.5 ≤0.5 Ⅳ ≤1.0 ≤1.0 1.7基线平直度 仪器基线平直度以吸光度表示，应符合表6要求。 表6基线平直度 级 别 A 段 B 段 C 段 Ⅰ ±0.001 ±0.001 ±0.002 Ⅱ ±0.002 ±0.002 ±0.005 Ⅲ ±0.005 ±0.005 ±0.010 Ⅳ ±0.010 ±0.010 ±0.020 1.8电源电压的适应性 电源电压波动为（220±22）V时仪器的透射比示值变化应满足表7要求。 表7电源电压的适应性 % 级 别 透射比示值变化 Ⅰ ±0.2 Ⅱ ±0.5 Ⅲ ±1.0 Ⅳ ±2.0 1.9杂散光 仪器杂散光应符合表8要求。 表8杂散光 % 级 别 A 段 B 段 C 段 220nm 360nm 420nm 1420nm Ⅰ ≤0.1 ≤0.1 ≤0.2 ≤0.2 Ⅱ ≤0.2 ≤0.2 ≤0.5 ≤0.5 Ⅲ ≤0.5 ≤0.5 ≤1.0 ≤1.0 Ⅳ ≤1.0 ≤1.0 ≤2.0 ≤2.0 1.10吸收池的配套性 吸收池配套性应符合表9要求。 表9吸收池配套性要求 % 吸收池类别 波 长 配套误差 石 英 220nm 0.5 玻 璃 440nm 0.5 2通用技术要求 2.1安全性能 仪器的绝缘电阻应不低于20MΩ。 2.2标志 仪器应有下列标志：名称、型号、编号、制造厂名、出场日期、工作电源电压、频率。国产仪器应有制造生产许可标志及编号。 2.3外观 仪器各紧固件均应紧固良好，各调节旋钮、按键和开关均能正常工作，电缆线的接插件均能紧密配合且接地良好。 仪器应能平稳地置于工作台上，样品架定位正确。 指示器刻线粗细均匀、清晰，数字显示清晰完整，可调节部件不应有卡滞、突跳及显著的空回。 2.4吸收池 吸收池不得有裂纹，透光面应清洁，无划痕和斑点。 3计量器具控制 3.1检定项目 仪器的首次检定、后续检定及使用中检验项目见表10。 表10检定项目一览表 序 号 检定项目 首次检定 后续检定 使用中检定 1 2 3 4 5 6 7 8 9 通用技术要求 波长示值误差与重复性 噪声与漂移 光谱带宽 透射比示值误差与重复性 基线平直度 电源电压的适应性 杂散光 吸收池的配套性 + + + + + + + + + + + + - + + - + + + + + - + - - + + 注：“+”为应检项目，“-”为