超声波探伤课件2方案.ppt

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 三角反射 x1≈1.3d x2=1.67d 其他非缺陷回波 探头杂波 工件轮廓回波 耦合剂反射波 幻象波 草状回波 其他变型波 4.11?? 侧壁干涉 第五章 铸件超声波探伤 常见缺陷 气孔、缩孔、夹杂、裂纹 铸件探伤特点 透声性差 声耦合查 干扰杂波多 探测条件选择 探头 试块 探测表面与耦合剂 透声性测试 铸钢件内外层划分 灵敏度 质量级别的评定 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 多次底波法 穿透法 纵波法 横波法 探头并列法 按波形分类 纵波法 横波法 表面波法 板波法 爬波法 按探头数目分类 单探头 双探头 多探头 按探头接触方式分类 直接接触法 液浸法 第二节 仪器与探头的选择 仪器选择 探测要求 现场条件 探头选择 根据工件结构形状、加工工艺和技术要求进行选择 探头型式 频率 晶片尺寸 K值 第三节??? 耦合与补偿 耦合剂 流动性、粘度、附着力适当，易清洗； 声阻抗高，透声性好； 价格便宜; 对工件无腐蚀，对人无害，不污染环境； 性能稳定，不易变质，能长期保存。 常用耦合剂有 机油、水、水玻璃、甘油、浆糊等 影响耦合剂的主要因素 耦合层厚度的影响 λ/4的奇数倍时，透声效果差 λ/2的整数倍或很薄时，透声效果好 影响耦合剂的主要因素 表面粗糙度的影响 一般R0不高于6.3μm 耦合剂声阻抗、工件表面形状的影响 表面耦合损耗的测定和补偿 表面耦合损耗的测定和补偿 第四节?? 探伤仪的调节 扫描速度调节 扫描速度调节 声程调节法 水平调节法 深度调节法 探伤灵敏度调节 试块调整法 工件底波调整法（x≥3N时） Δ=20lg — =20lg —— PB 2λx PF πDf2 第六节?? 缺陷大小的测定 常用的定量方法： 当量法 常用的当量法有当量试块比较法、当量计算法和当量AVG曲线法。 测长法 当工件中缺陷尺寸大于声束截面时，一般采用测长法来确定缺陷的长度。 测长法是根据缺陷波高与探头移动距离来确定缺陷的尺寸，按规定的方法测定的缺陷长度称为缺陷的指示长度。缺陷的指示长度总是小于或等于缺陷的实际长度。 根据测定缺陷长度时的基准不同将测长法分为相对灵敏度法、绝对灵敏度法和端点峰值法。 底波高度法 底波高度法是利用缺陷波与底波的相对波高来衡量缺陷的相对大小。当工件中存在缺陷时，由于缺陷的反射，使工件底波下降。缺陷愈大，缺陷波愈高，底波就愈低，缺陷波高与底波高之比就愈大。 当量法 当量比较法 将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工 缺陷回波进行比较来对缺陷定量 当量法 当量计算法 根据测得的缺陷波高的dB值，利用各种规则反射体的理论回波声压公式进行计算来确定缺陷当量尺寸 ΔBf=20lg — =20lg ———+2α(xf-xB) Δ12=20lg — =40lg ———+2α(x2-x1) PB 2λxf2 PF πDf2xB Pf1 Df1x2 Pf2 Df2x1 当量AVG曲线法 表示回波声程、幅度（dB）和缺陷大小关系的曲线称为AVG曲线，有通用AVG曲线和实用AVG曲线。 当量AVG曲线法是利用AVG曲线来确定工件中缺陷的当量尺寸。 描述波高和距离之间关系的DAC曲线是AVG曲线的特例。 测长法 相对灵敏度测长法 绝对灵敏度测长法 第八节 影响缺陷定位、定量的主要因素 影响缺陷定位的主要因素 仪器 水平线性 水平刻度精度 探头 声束偏离 探头双峰 斜楔磨损 探头指向性 影响缺陷定位的主要因素 工件 工件表面粗糙度——耦合 工件材质——与试块声速不同、工件内有较大应力 工件表面形状——探测曲面工件 工件边界——侧壁反射波产生干扰 工件温度——影响声速度 工件内缺陷方向 影响缺陷定位的主要因素 操作人员的影响 仪器时基比例 入射点、K值 定位方法不当 影响缺陷定量的因素 仪器及探头 频率的影响 衰减器精度和