《半导体检测与分析》期末考试复习题库资料（含答案）.pdf
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《半导体检测与分析》期末考试复习题库（含答案）
一、单选题
1.加速因子AFT定义为基底温度T0处的失效时间与提高温度T1处的时间比值。
如果在基底温度T0下，某器件的失效时间为1000小时，在提高温度T1下，该
器件的失效时间为100小时，则加速因子AFT是多少？
A、10
B、100
C、0.1
D、0.01
答案：A
解析：根据加速因子AFT的定义，AFT=T0失效时间/T1失效时间=1000小时/100
小时=10。
2.在半导体器件的可靠性分析中，对数正态分布常用于描述哪种现象？
A、器件的初始性能参数
B、器件在长时
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