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GB/T 5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　杨氏弹性模量　泊松比测试方法.pdf

发布：2019-06-17约6千字共8页下载文档

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UDC 621. 315. 612 : 621. 382/. 387 : 620. 1 中华人民共和国国家标准 GB 5594. 2—85 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量泊松比测试方法 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio 1985-11-27 发布 1986-12-01 实施国家^ 杨^ 批准中华人民共和国国家标准电子元器件结构陶瓷材料 UDC 621.315.612 性能测试方法 621.382 /. 387； 620.1 GB 5594.2-85 杨氏弹性模量泊松比测试方法 Test met hods for proper! ies of struciure ceramic used in electronic components Test met hod for Youngs elasf lc mod ulus and Poisson rat Io 本标准适用i空赫卜■电于元爲件结构樹注轲料的杨氏弹件樓世、切变樓蹴和泊松比的测*。 1测试原連当•个连续弾性体,械外力澈发（廢和而产生娠动时・町能出现许多个周有闻卓（或主报塩）值.而试样的固有频率完全妆决F其本身W有的物理性 W壬何外界因案无决。从能处观点来右. 由十各左戡型之佃不会产生能钛的传敢同此可以认为.XL扳里之间泉相互独立的。其中以堆機报动R/fM大僅队根据能以报編比屮方成d上匕的关系，在阻尼輾动中.只□雄诫报动的嫩輸农减吋间最长.利用这-符.魚在豉击桩弄姓模钛此试小，将仪器设计馆动延时电賂,待祥商次上振型的 fte陽»只到很小或冷时.使nJ方便rff准嫌验灯n M袖东•切进＜]• i W ＞） 1»\ 根据处力徽发方式、支存方式忙不詞・试样格厂‘1.横报、纵振或扭报。囁齐较堀赧容易越诱发产生共扼，HJJk现攣明显。厌此.齐傲d汐.卉性检袋创试叽常通过闹师黴加A频电求出场氏洋性椒 W ） ,通过如城屣频求出切仝恳詁（（八。从rfri计C出祈松比（ , 2测试方法越击弍动态杨氏押性模粽妙试方法“ 2.1对试样的翌求试片应符合GB 5593痢电件结构测逐财叫册J址定浪国用度耍狄长哎为irO』5mm、丈度和哎为z 0.02mm 、五曲为± D.（ l5g = 2.2支徐方式在曲址横板总频成扭阪卷频时.支抵心应选祀忒城振动的吊卢、上，为用试方便起见.均可按的塔自由的方丈逸择支总氐即M3基颤时.龙檸萸宜遠訓ti试棒网端o .⑵ 「，了在・扭檢廉频时, 官e 1/2/.处。对r支押材科，鬼应选斥弃•宦強度n办良好隔掘舷果的左机材料如硬虑胶、换即斜c诃时支睞冏存足够的还U,其共撿顿

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