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GB/T 5594.8-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　第8部分：显微结构测定方法.pdf

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ICS31-030 L90 中华人民共和国国家标准 / — GBT5594.8 2015 代替 / — GBT5594.8 1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 : 第部分显微结构测定方法 8 Testmethodsfor roertiesofstructureceramic p p — usedinelectroniccom onentsanddevice p : Part8Testmethodformicrostructure 2015-05-15发布 2016-01-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会中华人民共和国国家标准电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 : 第部分显微结构测定方法 8 / — GBT5594.8 2015 * 中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲号( ) 2 100029 北京市西城区三里河北街号( ) 16 100045 网址: g 服务热线: 400-168-0010 010 年月第一版 2015 4 * 书号: ·

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