LED 显示模组之阵列式光学检测模组研制及均匀度补偿应用.PDF
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技術學刊 第二十四卷 第三期 民國九十八年 205
Journal of Technology, Vol. 24, No. 3, pp. 205-212 (2009)
LED 顯示模組之陣列式光學檢測模組研製及
均勻度補償應用
蔡明忠 王凱生 李旻鴻 張書槐
臺灣科技大學自動化及控制研究所
摘 要
發光二極體 (Light Emitting Diode, LED) 已廣泛應用在室外顯示看板、
TFT-LCD 背光源及各種照明等。然其單一模組之品質如發光均勻性等,造成
大型化 LED 面板組立後之品質問題仍有待改善。為了提升 LED 顯示模組的生
產品質,本研究設計研製 16 × 16 陣列型數位光電檢測模組,並建構一套快
速亮度檢測及自動補償裝置。可自動檢測彩色 LED 面板的亮度分佈,並執行
均勻度補償運算。再運用 LED 之硬體式亮度補償電路,可有效提昇 LED 顯示
模組亮度均勻性。本研究以 2R1G1B LED 顯示模組 (16 × 16 LEDs) 之實驗結
果顯示,經自動補償後均勻度可達 98%以上,效果相當明顯,且任一灰階之檢
測時間只要 1 秒左右,驗證本系統確實能有效的提高 LED 模組生產品質,具
有線上實用價值。
關鍵詞:發光二極體顯示模組,亮度均勻性,自動光學檢測,補償查詢表
(CLUT) 。
IMPLEMENTATION OF ARRAY-BASED OPTICAL INSPECTION DEVICE
AND UNIFORMITY COMPENSATION FOR LED
DISPLAY MODULES
Ming-Jong Tsai Kai-Sheng Wang Ming-Hung Li Shu-Huai Chang
Graduate Institute of Automation and Control
National Taiwan University of Science and Technology
Taipei, Taiwan 106, R.O.C.
Key Words: light emitting diodes (LEDs) display module, luminance
uniformity, automatic optical inspection (AOI), compensated
look up table (CLUT).
ABSTRACT
The wide applications of Light Emitting Diodes (L
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