基于msp430单片机的晶化监控系统设计与实现.pdf

2008年第6期 麓北仪表与自动化装置 ·23· 基于MSP430单片机畿晶化监控 系统设计与实现 张万宏1，壬晓兰2，王玮冬2 (1．青海火学化工学院，青海西宁8l0016； 2．甘肃省有色金属新材料衡部共建国家重点实验室，甘肃兰州730050) 摘要：针对非晶材料晶化过程的电特性，提出了晶化温度控制和电阻率测试的总体设计方案， 介绍了靛控系统硬件和软件设计，谨嚣俸设事卡了以MSP430单片辄为核心的智熙温度控刺争电阻 攀测试装置。试验结果表明该系统既捷蔼了控稠精度和可靠挂，降低了秀发成本，又能准确及聍地 爽瑰黪螽糖耪鑫程过程电特洼懿在线镑态研究。 关键词：磊化监控；组合鸯校正；MSP430 中图分类号：TP368文献标识弼：A The and ofa control crystallization designimplementation monitoringsystem basedontheMSP430 single—chipmicroprocessor ZHANG Wan-hon91，WANGXiao-lan2，WANGWei．dongz (I．＆hootof吼m枷E州nt,rlng“，妇qinghaiUnitq,rsity，qinghaiXm／ng810016，Ch／na； 730050，C舶Ⅵ) 2．3tareKeyLabofC．ansuAdvancedNon-ferrousMetalMaterials，Gansuk，融w totheelectric ofthe of Abstract：According crystallizationprocessan越,norphousmaterial， property gt a8 asthe the the ofa monitorand meterwdl design resistivity configuration paperpresents temperature ofthehardwareandsoftwarebasedontheMSP430 resultfromits single—chipmicroprocessor。Theappli- cationshowsthatthis hasnot thecontrol and alsoreduced system onlyimproved accuracyreliability，but all for aboutin ofthe its costandofferedoccasion timeanon—line development bringing