DDR4 和 LPDDR4 存储器的物理层验证和功能测试.pdf

是德科技 DDR4 和 LPDDR4 存储器的 物理层验证和功能测试 应用简介 2015 年夏季-秋季 “应用解决方案指南” 再版，5992-0114ENDI 02 | DDR4 和 LPDDR4 存储器的物理层验证和功能测试——应用简介 存储器速度的提升也会对功能测试 DDR4 和 LPDDR4 存储器的物理层验证 和验证带来各种影响。后果之一就 是随机抖动大幅增加，这将导致数 和功能测试 据有效窗口缩小。另一个后果就是 缩短的时钟周期，这意味着更小的 抖动预算，增加了降低抖动的复杂 性。 验证有源信号 数据速率的提高带来的是 DDR4 存储器裕量的减小和误码率的上升 。DDR4 测试要求可以直接解决这 些问题。 借助示波器，将捕获的波形显示为 实时眼图 （RTE），从而深入分析 串行数据信号抖动。通过显示这些 比特何时有效（高或低），RTE 提 随着对更高速度、更低功耗和更小体 信号完整性对于存储器系统的可靠运行 供了展现物理层特征的综合图像， 积存储器的需求不断增加，双数据速 至关重要。更高的 DDR4 存储器时钟速 例如峰峰值边沿抖动和噪声。尽管 率 （DDR）存储器技术仍在保持快速 率会带来一些问题，例如反射和串扰，这 不是必须要执行的测试，但眼图高 演进。2014 年，第四代 DDR4 和 会导致信号质量下降和逻辑出错。 度和眼图宽度可以非常容易地帮助 低功率 DDR4 （LPDDR4 ）发布，在 用户检查信号完整性并预估数据有 速度、密度、功率和散热方面实现了 测试信号完整性，首先应从物理层开始， 效窗口。 巨大飞跃。开发人员最关心的就是互 用时钟上升沿和下降沿传输数据。 操作性，验证 DDR4 性能要求在物 JEDEC 标准要求对电气、计时和眼图测 想要全面分析数据有效窗口和预测 理和协议层进行范围广泛的测量。 试进行输入和输出测量，其中包括众多测 比特误码率，必须要测量最坏情况 试操