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退火工艺对二维MoSe₂薄膜及相关器件性能影响的深度剖析.docx

发布:2025-03-29约3.85万字共31页下载文档
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退火工艺对二维MoSe?薄膜及相关器件性能影响的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

随着科技的飞速发展,二维材料因其独特的物理性质和潜在的应用价值,成为了材料科学领域的研究热点。二维MoSe?薄膜作为一种典型的过渡金属硫属化合物(TMDs),具有诸多优异的特性,在光电子、能源存储等领域展现出了广阔的应用前景。

在光电子领域,二维MoSe?薄膜具有直接带隙特性,其带隙大小可在一定范围内进行调控,这使得它在光电探测器、发光二极管、激光器等光电器件中具有潜在的应用价值。例如,基于二维MoSe?薄膜的光电探测器能够实现对不同波长光的高效探测,有望应用于安防监控、生物医学检测、环境监测等领

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