【英语版】国际标准 ISO 29301:2010 EN Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures 显微光束分析 分析透射电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大率的方法.pdf

ISO29301:2010EN微束分析—分析透射电子显微镜—具有周期性结构的参考材料用于校准图像放大方法的方法ISO29301是一套关于微束分析的标准，特别是关于分析透射电子显微镜（简称TEM）方面的规定。这个标准详细描述了如何使用具有周期性结构的参考材料来校准图像的放大倍数。

校准图像放大倍数在TEM实验中非常重要，因为它关系到我们能否准确地分析样品。周期性结构的参考材料，如标准样品或者晶体，其结构可以在高放大倍数下观察并作为校准的标准。通过观察并记录这些结构的实际大小和图像中放大了的版本的大小，我们可以建立一个准确的放大倍数与实际结构大小之间的映射关系。这样，在分析未知样品时，我们就可以使用这个映射关系来校准图像的放大倍数，从而提高分析的准确性。

ISO29301提供了TEM实验中校准图像放大倍数的详细指南，包括选择和使用周期性结构的参考材料，以及如何记录和分析这些数据，以确保分析的准确性。