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【英语版】国际标准 ISO 29301:2017 EN Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures 显微光束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大率的方法.pdf

发布:2024-12-31约字共页下载文档
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ISO29301:2017标准详细说明了用于在电分析电子显微镜中校正图像放大率的方法,它包括使用具有周期性结构的参考材料。在电分析电子显微镜中,观察到的电子图像的放大率需要进行校准,以便得到准确的图像细节。ISO29301:2017方法提供了一种基于周期性结构参考材料的校准过程,详细描述了如何选择和准备这些参考材料,以及如何在实际操作中应用这些材料来校准图像放大率。这种方法可以提供更高的精度和可靠性,特别是在需要高分辨率和精确分析的微束分析中。这种方法对于科学家、研究人员和工程师在进行纳米尺度材料研究和开发过程中非常重要。

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